一种外差式时间序列散斑干涉测量物体变形的方法

摘要

本发明公开了属于激光散斑干涉测量领域的一种外差式时间序列散斑干涉测量物体变形的方法。该方法结合了时间序列散斑干涉测量和外差式干涉测量方法，直接给出时变场的相位函数，并引入频率差，确保形变测量精度。本发明简化了物体变形检测系统，并通过使用铌酸锂偏振控制器更好地适应了高速CCD的存储速度。

主权项

一种外差式时间序列散斑干涉测量物体变形的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一：选择He‑Ne激光器，输出频率是ω的线偏振光；步骤二：线偏振光通过偏振控制器后变成含有两个频率的正交线偏振光；步骤三：上述含有两个频率的正交线偏振光经过空间滤波器进行空间滤波和扩束；步骤四：扩束后的含有两个频率的正交线偏振光透射过普通分光镜，入射偏振分光棱镜并被分开为两束；其中一束光被偏振分光棱镜反射向上通过检偏器入射平面反射镜，被反射后再次通过检偏器，在偏振分光棱镜处被反射到普通分光镜处，作为参考光；另一束光透射过偏振分光棱镜后，入射到待测物体上，发生散射，带有物体变形信息的散射光反射回偏振分光棱镜处并透过它入射到普通分光镜处，作为测量光；步骤五：所述测量光和参考光被普通分光镜反射，通过检偏器后干涉，形成物体变形散斑图；该散斑图成像于高速CCD上；步骤六：对高速CCD获得的散斑强度图进行傅里叶变换，获得调制频率图和频谱图，其中，通过调制频率图确定物体各个部位变形的方向；通过频谱图获得物体基于时间的变形量。