发明名称 |
NMOS晶体管的制作方法 |
摘要 |
一种NMOS晶体管的制作方法,包括:在半导体衬底上依次形成栅介质层与栅极,所述栅介质层与栅极构成栅极结构;对栅极进行退火;以栅极结构为掩模,在栅极两侧的半导体衬底内进行离子注入,形成源/漏极延伸区;在栅极结构两侧形成侧墙后,在栅极结构及侧墙两侧的半导体衬底内形成源/漏极。本发明对栅极进行退火,能使栅极中因注入离子而使晶格状态不稳定,容易非晶化的部分重新多晶化,使栅极的性能提高,进而使半导体器件的电性能也相应提高。 |
申请公布号 |
CN101740391B |
申请公布日期 |
2011.08.17 |
申请号 |
CN200810202835.X |
申请日期 |
2008.11.17 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
发明人 |
何有丰;白杰;唐兆云;朴松源 |
分类号 |
H01L21/336(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/336(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
李丽 |
主权项 |
一种NMOS晶体管的制作方法,其特征在于,包括:在半导体衬底上依次形成栅介质层与多晶硅层,在所述多晶硅层中注入预定深度的离子,刻蚀所述多晶硅层和所述栅介质层至露出半导体衬底,刻蚀后的多晶硅层为栅极,所述栅介质层与栅极构成栅极结构;对栅极进行退火,退火后向带有各膜层的半导体衬底通入氧气以氧化栅极表面;以栅极结构为掩模,在栅极两侧的半导体衬底内进行离子注入,形成源/漏极延伸区;在栅极结构两侧形成侧墙后,在栅极结构及侧墙两侧的半导体衬底内形成源/漏极。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江路18号 |