发明名称 NMOS晶体管的制作方法
摘要 一种NMOS晶体管的制作方法,包括:在半导体衬底上依次形成栅介质层与栅极,所述栅介质层与栅极构成栅极结构;对栅极进行退火;以栅极结构为掩模,在栅极两侧的半导体衬底内进行离子注入,形成源/漏极延伸区;在栅极结构两侧形成侧墙后,在栅极结构及侧墙两侧的半导体衬底内形成源/漏极。本发明对栅极进行退火,能使栅极中因注入离子而使晶格状态不稳定,容易非晶化的部分重新多晶化,使栅极的性能提高,进而使半导体器件的电性能也相应提高。
申请公布号 CN101740391B 申请公布日期 2011.08.17
申请号 CN200810202835.X 申请日期 2008.11.17
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 何有丰;白杰;唐兆云;朴松源
分类号 H01L21/336(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I 主分类号 H01L21/336(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 李丽
主权项 一种NMOS晶体管的制作方法,其特征在于,包括:在半导体衬底上依次形成栅介质层与多晶硅层,在所述多晶硅层中注入预定深度的离子,刻蚀所述多晶硅层和所述栅介质层至露出半导体衬底,刻蚀后的多晶硅层为栅极,所述栅介质层与栅极构成栅极结构;对栅极进行退火,退火后向带有各膜层的半导体衬底通入氧气以氧化栅极表面;以栅极结构为掩模,在栅极两侧的半导体衬底内进行离子注入,形成源/漏极延伸区;在栅极结构两侧形成侧墙后,在栅极结构及侧墙两侧的半导体衬底内形成源/漏极。
地址 201203 上海市浦东新区张江路18号