一种用于X射线荧光光谱分析硅铁合金成分的分析方法

摘要

本发明公开了一种用于X射线荧光光谱分析硅铁合金成分的分析方法，其中的制样方法为：选择合适的氧化剂；在铂金坩埚中加熔剂，将铂金坩埚放入高温炉中，熔剂高温熔融，制成熔剂打底挂壁的熔剂坩埚；将硅铁合金测试样品、熔剂和氧化剂混合后，倒入熔剂坩埚中，上面覆盖一定量的混合熔剂；将装有硅铁合金测试样品、熔剂、氧化剂和混合熔剂的熔剂坩埚放入高温炉中，先在低温下预氧化，然后移入高温区，高温熔融制成用于X射线荧光光谱分析的硅铁合金测试样品玻璃样片。上述技术方案使得制成的玻璃样片中元素分布均匀，无颗粒效应，可长期保存；操作方法简单、安全、样片制备时间短，实现了同时进行硅铁合金中主次量元素的快速准确的测定。

主权项

一种用于X射线荧光光谱分析硅铁合金成分的分析方法，所述的分析方法包括硅铁合金测试样品的制样方法，其特征在于：所述的制样方法包括以下步骤：1)、选择过氧化钡作为氧化剂；2)、在铂金坩埚中加四硼酸锂作熔剂，将铂金坩埚放入高温炉中，熔剂高温熔融，制成熔剂打底挂壁的熔剂坩埚；3)、将硅铁合金测试样品、熔剂和氧化剂混合后，倒入已打底挂壁的熔剂坩埚中，上面覆盖一定量的混合熔剂，所述的混合熔剂中的含量按质量百分比为33％四硼酸锂和67％偏硼酸锂；4)、将装有所述的硅铁合金测试样品、熔剂、氧化剂和混合熔剂的熔剂坩埚放入高温炉中，先在低温下预氧化，然后移入高温区，高温熔融制成用于X射线荧光光谱分析的硅铁合金测试样品玻璃样片。