| 发明名称 | 检测针脚及应用其的检测装置 | ||
| 摘要 | 一种检测针脚及应用其的检测装置。检测针脚用以检测半导体组件，半导体组件具有数个电性接点。检测针脚包括第一部分、第二部分及第三部分。第三部分用以接触电性接点。其中，第二部分连接第一部分与第三部分、第二部分的截面积往第三部分的方向渐缩且第二部分与第三部分间夹一第一夹角，第一夹角介于155度至185度之间。 | ||
| 申请公布号 | CN102156206A | 申请公布日期 | 2011.08.17 |
| 申请号 | CN201010585044.7 | 申请日期 | 2010.12.03 |
| 申请人 | 日月光半导体制造股份有限公司 | 发明人 | 曹育诚;蔡昭源 |
| 分类号 | G01R1/067(2006.01)I;G01R31/26(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R1/067(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人 | 陆勍 |
| 主权项 | 一种检测针脚，用以检测一半导体组件，该半导体组件具有数个电性接点，该检测针脚包括：一第一部分；一第二部分；以及一第三部分，用以接触该些电性接点的一者；其中，该第二部分连接该第一部分与该第三部分、该第二部分的截面积往该第三部分的方向渐缩且该第二部分与该第三部分间夹一第一夹角，该第一夹角介于155度至185度之间。 | ||
| 地址 | 中国台湾高雄市楠梓加工出口区经三路26号 | ||