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一种硬币检测装置，系包括有主体及电路模组，其中：该主体内部为具有可供硬币进入之入币通道；该电路模组为设置于主体内部，并具有对应于入币通道处之光学读取装置，而光学读取装置所具之光学模组包括有至少一个可投射光线至硬币周边处复数刻痕上之光发射器，以及可接收硬币上不同宽度刻痕光线反射后所产生明暗不同的光讯号转换成相对应电讯号之光感测器，且光学模组连接有可将电讯号转换成相对应数位讯号输出至微处理器内之类比/数位转换电路，而可由微处理器读取数位讯号来判断出刻痕之个数及宽度大小，并与微处理器内的预设值进行比对判断出硬币的真伪。如申请专利范围第1项所述之硬币检测装置，其中该主体所具有之基座内侧处为设有隔板，且位于隔板与基座之间形成有具入币口之入币通道，并于入币通道后侧下方处设有可供硬币通过之出币口，而电路模组之光学读取装置为设置于基座上对应于入币通道处，且光学读取装置所具之电路板上设有光学模组及类比/数位转换电路。如申请专利范围第2项所述之硬币检测装置，其中该电路模组为设有硬币侦测模组，而硬币侦测模组位于主体的基座与隔板侧边上设置有二电路板，且二电路板上对应于入币通道二侧处设有相对之复数铁芯及感测线圈。如申请专利范围第2项所述之硬币检测装置，其中该主体之基座位于入币通道上方处设有轴部，并于轴部上枢设有扭簧及可推抵于隔板呈横向活动位移之退币机构，且基座位于入币通道下方前侧处则设有可供硬币退出之退币口。如申请专利范围第4项所述之硬币检测装置，其中该主体之隔板位于入币通道内部设有可导引硬币进入之导轨片，并于隔板上方对应于退币机构处设有推移部，而退币机构所具之旋动件周边处凸设有顶推部，并以顶推部推抵于推移部上使隔板横向活动位移，且使硬币与导轨片形成错位而掉落至退币口进行退出。如申请专利范围第2项所述之硬币检测装置，其中该主体之基座位于出币口处为设有可供硬币推抵旋动之防盗钩，并于隔板上对应于防盗钩处设有相对之穿槽，而防盗钩所具之转轴为对应枢接于穿槽内，并于防盗钩一侧处设有可遮挡于硬币周边处防止取出之摆动体，且摆动体之另侧处设有可抵持于隔板上之抵止部。如申请专利范围第2项所述之硬币检测装置，其中该主体之基座后方上、下二侧处设有相对之轴孔，而隔板后侧处设有可穿设于轴孔内之轴杆及可套设于轴杆上之辅助弹簧，并以辅助弹簧弹性撑抵于基座与隔板上进行弹性复位。如申请专利范围第1项所述之硬币检测装置，其中该电路模组之光学读取装置可利用微处理器透过测量脉冲数位讯号的数目判断出硬币上之刻痕所形成不同宽度平行凸条与凹槽的个数，以及测量脉冲数位讯号所产生之频率持续的时间判断出刻痕之宽度大小，并与预设值进行比对后，藉此作为硬币的真伪之判断标准。如申请专利范围第1项所述之硬币检测装置，其中该电路模组之光感测器可为互补金属氧化半导体、电荷耦合元件或接触式感光元件。 |
