发明名称 溅镀靶及其制造方法
摘要
申请公布号 申请公布日期 2011.08.11
申请号 TW095111755 申请日期 2006.04.03
申请人 JX日鑛日石金屬股份有限公司 日本 发明人 中村笃志 日本;矢作政隆 日本;佐藤贤次 日本
分类号 C23C14/34;C23C14/08 主分类号 C23C14/34
代理机构 代理人 阎启泰 台北市中山区长安东路2段112号9楼;林景郁 台北市中山区长安东路2段112号9楼
主权项 一种溅镀靶之制造方法,其特征在于:将原料之Al2O3粉及ZnO粉事先混合并以800~1200℃先加以煅烧,于此煅烧后之Al2O3-ZnO粉,混合MgO及/或SiO2粉并加以再煅烧后,进行烧结,以总合量计,系由Al2O3:0.2~3.0at%、MgO及/或SiO2:1~27at%、剩余部分为ZnO所构成。一种溅镀靶之制造方法,其特征在于:将原料之Al2O3粉及ZnO粉事先混合并以800~1200℃先加以煅烧,且将原料之MgO粉与SiO2粉同样加以混合、煅烧,接着将该MgO-SiO2煅烧粉混合于该煅烧后之Al2O3-ZnO粉并加以再煅烧后,进行烧结,以总合量计,系由Al2O3:0.2~3.0at%、MgO及/或SiO2:1~27at%、剩余部分为ZnO所构成。如申请专利范围第1或2项之溅镀靶之制造方法,其中,该溅镀靶之MgO及/或SiO2含量为10~27at%。一种溅镀靶,其特征在于:系以申请专利范围第1项之溅镀靶之制造方法所制造,由Al2O3:0.2~3.0at%、MgO及/或SiO2:1~27at%、剩余部分为ZnO所构成。一种溅镀靶,其特征在于:系以申请专利范围第2项之溅镀靶之制造方法所制造,由Al2O3:0.2~3.0at%、MgO及/或SiO2:1~27at%、剩余部分为ZnO所构成。如申请专利范围第4或5项之溅镀靶,其中,MgO及/或SiO2含量为10~27at%。如申请专利范围第4或5项之溅镀靶,其相对密度为90%以上。如申请专利范围第4或5项之溅镀靶,其系用以形成光资讯记录媒体之保护层、反射层、或半透过层之靶。如申请专利范围第4或5项之溅镀靶,其中,靶之体电阻不满100mΩ.cm。
地址 日本