发明名称 电阻测量方法及组件检查方法
摘要
申请公布号 TWI346785 申请公布日期 2011.08.11
申请号 TW096134858 申请日期 2007.09.19
申请人 富士通股份有限公司 发明人 平塚良秋;池田明雄;铃木政晴
分类号 G01R27/02 主分类号 G01R27/02
代理机构 代理人 恽轶群 台北市松山区南京东路3段248号7楼;陈文郎 台北市松山区南京东路3段248号7楼
主权项 一种测量一被测物表面之电阻的电阻测量方法,该电阻测量方法包含:一第一步骤,其中一弹性导电材料系被一对被测物夹住;及一第二步骤,其中系测量该等成对夹住该弹性导电材料的该等被测物之间的一电阻;其中该第一步骤系为一步骤,其中该导电材料以及一控制该对被测物之间的空隙之隔件系被该等成对的被测物夹住;该导电材料之一电阻值系预先获得;且该隔件系较处于一未压缩状态中的该导电材料为薄。如申请专利范围第1项之电阻测量方法,其中该导电材料系为一种弹性材料。如申请专利范围第1项之电阻测量方法,其中该隔件系为一绝缘构件。如申请专利范围第1项之电阻测量方法,其中该被测物具有位于一金属表面上之薄膜。如申请专利范围第1项之电阻测量方法,其中该被测物系由一镀锌钢板、一不锈钢板、一钢板、一铜板、一合金材料、一铝以及一树脂其中一者所制成。一种用以基于测量过一被测物表面的电阻之后的测量结果判定一被测物之品质优良与否的组件检查方法,该组件检查方法包含:一第一步骤,其中一弹性导电材料系被一对被测物夹住;及一第二步骤,其中系测量夹住该弹性导电材料的该成对被测物之间的一电阻;其中该第一步骤系为一步骤,其中该导电材料以及一控制该对被测物之间的空隙之隔件系被该等成对的被测物夹住;该导电材料之一电阻值系预先获得;且该隔件系较处于一未压缩状态中的该导电材料为薄。如申请专利范围第6项之组件检查方法,其中该导电材料系为一种弹性材料。如申请专利范围第6项之组件检查方法,其中该隔件系为一种绝缘构件。如申请专利范围第6项之组件检查方法,其中该被测物具有位于一金属表面上之薄膜。如申请专利范围第6项之组件检查方法,其中该被测物系由一镀锌钢板、一不锈钢板、一钢板、一铜板、一合金材料、一铝以及一树脂其中一者所制成。
地址 日本