发明名称 |
Ätzprozess zum Einsenken von Polysilizium in Grabenstrukturen einer DRAM-Speicherzelle |
摘要 |
wobei das Verfahren folgendes umfaßt: – Ausbilden eines Grabens in einem Halbleitersubstrat, wobei der Graben ein oberes und unteres Gebiet enthält; – Ausbilden eines Oxidkragens im oberen Gebiet des Grabens; danach – Abscheiden von Polysilizium im Graben; – Auftragen einer ersten Lösung, die NH4OH in Wasser umfasst, auf das Polysilizium; – Ätzen eines Teils des Polysiliziums mit der ersten Lösung, um das Polysilizium auf eine gewünschte Form und Größe einzusenken; – Abscheiden von SiN im oberen Gebiet des Grabens nach dem Ätzen des Teils des Polysiliziums mit der ersten Lösung; – Ätzen eines Teils des SiN in einem Boden des oberen Gebiets; – Auftragen einer zweiten Lösung aus NH4OH in Wasser auf das Polysilizium; – Ätzendes Polysiliziums mit der zweiten Lösung, um einen zweiten Teil des Polysiliziums im unteren Gebiet des Grabens zu entfernen, wodurch das...
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申请公布号 |
DE10317151(B4) |
申请公布日期 |
2011.08.11 |
申请号 |
DE20031017151 |
申请日期 |
2003.04.14 |
申请人 |
QIMONDA AG |
发明人 |
TEWS, HELMUT HORST, DR.;SCHUPKE, KRISTIN;MICHAELIS, ALEXANDER, DR.;POPP, MARTIN, DR.;SCHROEDER, UWE;KOEHLER, DANIEL;KUDELKA, STEPHAN |
分类号 |
H01L21/8242;H01L21/302;H01L21/306;H01L21/311;H01L21/334;H01L21/336;H01L21/461;H01L27/108 |
主分类号 |
H01L21/8242 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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