发明名称 Ätzprozess zum Einsenken von Polysilizium in Grabenstrukturen einer DRAM-Speicherzelle
摘要 wobei das Verfahren folgendes umfaßt: – Ausbilden eines Grabens in einem Halbleitersubstrat, wobei der Graben ein oberes und unteres Gebiet enthält; – Ausbilden eines Oxidkragens im oberen Gebiet des Grabens; danach – Abscheiden von Polysilizium im Graben; – Auftragen einer ersten Lösung, die NH4OH in Wasser umfasst, auf das Polysilizium; – Ätzen eines Teils des Polysiliziums mit der ersten Lösung, um das Polysilizium auf eine gewünschte Form und Größe einzusenken; – Abscheiden von SiN im oberen Gebiet des Grabens nach dem Ätzen des Teils des Polysiliziums mit der ersten Lösung; – Ätzen eines Teils des SiN in einem Boden des oberen Gebiets; – Auftragen einer zweiten Lösung aus NH4OH in Wasser auf das Polysilizium; – Ätzendes Polysiliziums mit der zweiten Lösung, um einen zweiten Teil des Polysiliziums im unteren Gebiet des Grabens zu entfernen, wodurch das...
申请公布号 DE10317151(B4) 申请公布日期 2011.08.11
申请号 DE20031017151 申请日期 2003.04.14
申请人 QIMONDA AG 发明人 TEWS, HELMUT HORST, DR.;SCHUPKE, KRISTIN;MICHAELIS, ALEXANDER, DR.;POPP, MARTIN, DR.;SCHROEDER, UWE;KOEHLER, DANIEL;KUDELKA, STEPHAN
分类号 H01L21/8242;H01L21/302;H01L21/306;H01L21/311;H01L21/334;H01L21/336;H01L21/461;H01L27/108 主分类号 H01L21/8242
代理机构 代理人
主权项
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