发明名称 MICROLITHOGRAPHIC PROJECTION EXPOSURE SYSTEM
摘要 <p>Die Erfindung betrifft eine mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage (600) mit einer Beleuchtungseinrichtung (601) und einem Projektionsobjektiv (602), wobei die Beleuchtungseinrichtung (601) im Betrieb der Projektionsbelichtungsanlage (602) eine Objektebene OP des Projektionsobjektivs beleuchtet und das Projektionsobjektiv diese Objektebene auf eine Bildebene (W) abbildet, wobei die Beleuchtung der Objektebene mit linear polarisiertem Licht erfolgt, dessen Wellenlänge kleiner als 15 Nanometer (nm) ist, und wobei das Projektionsobjektiv wenigstens eine Pupille (110, 210, 310, 410, 510) aufweist, wobei wenigstens eine Begrenzungslinie dieser Pupille eine von einer Kreisform abweichende Geometrie aufweist.</p>
申请公布号 WO2011095209(A1) 申请公布日期 2011.08.11
申请号 WO2010EP51303 申请日期 2010.02.03
申请人 CARL ZEISS SMT GMBH;GOEHNERMEIER, AKSEL;FIOLKA, DAMIAN;GRUNER, TORALF 发明人 GOEHNERMEIER, AKSEL;FIOLKA, DAMIAN;GRUNER, TORALF
分类号 G03F7/20 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人
主权项
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