发明名称 一种氧自由基吸收能力测定分析仪中的光源系统
摘要 一种氧自由基吸收能力测定分析仪中的光源系统,它具有半导体光源,该光源的发射光依次通过激发光会聚透镜L1、激发光干涉滤光片F1后形成波长485nm激发光λ1;所述的λ1通过反射镜M反射后垂直射入样品管内,样品吸收485nm激发光后,激发出荧光,通过出口射入接收光会聚透镜L2、接收光干涉滤光片F2后形成波长538nm发射光λ2,λ2照射到光电倍增管阴极面,检出样品荧光强度。它主要解决现有仪器由于以卤素灯为基础的光源系统所带来的缺点,因卤素灯本身产热量大,影响仪器恒温系统,使测定结果不稳定,同时卤素灯光源光强度随时间衰减大、寿命短(半年~一年内需要更换)。改进后的半导体光源克服了上述问题,还能显著降低能耗,延长使用寿命。
申请公布号 CN201926624U 申请公布日期 2011.08.10
申请号 CN201020640316.4 申请日期 2010.12.03
申请人 上海智城分析仪器制造有限公司;上海交大昂立股份有限公司 发明人 章蔚娟;胡裕杰;史国兴;邵卫樑
分类号 G01N21/64(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;F21V13/00(2006.01)I 主分类号 G01N21/64(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人 王敏杰
主权项 一种氧自由基吸收能力测定分析仪中的光源系统,其特征在于它具半导体光源(1),半导体光源(1)的发射光依次通过激发光会聚透镜L1、激发光干涉滤光片F1后形成波长485nm激发光λ1;所述的λ1通过反射镜M的反射后垂直入射测定管(2),测定管(2)内样品被激发出荧光,该荧光通过接收光透镜L2、接收光干涉滤光片F2后形成波长538nm光束λ2,λ2到达光电倍增管阴极面,其荧光强度转换为电信号被检出。
地址 201400 上海市奉贤区南亭公路395号