发明名称 |
一种坏点补偿的方法及装置 |
摘要 |
本发明的实施例中公开了一种坏点补偿的方法,该方法包括:A、确定当前需补偿的坏点的各个参照点的强度值;B、根据当前需补偿的坏点的各个参照点的强度值,对当前需补偿的坏点进行补偿。本发明的实施例中还公开了一种坏点补偿的装置,该装置包括:获取模块和补偿模块。通过使用上述的方法和装置,可提高图像传感器的成像质量,同时还可对坏点进行快速搜索,节省检测的时间。 |
申请公布号 |
CN101304485B |
申请公布日期 |
2011.08.10 |
申请号 |
CN200810112796.4 |
申请日期 |
2008.05.26 |
申请人 |
北京中星微电子有限公司 |
发明人 |
沈操;王浩;周芬 |
分类号 |
H04N5/367(2011.01)I |
主分类号 |
H04N5/367(2011.01)I |
代理机构 |
北京德琦知识产权代理有限公司 11018 |
代理人 |
宋志强;麻海明 |
主权项 |
一种坏点补偿的方法,其特征在于,该方法包括:A、确定当前需补偿的坏点的各个参照点的强度值;B、将同一方向上的两个参照点组成一个参照点组;当有至少一个参照点组中没有坏点时,计算没有坏点的参照点组中的两个参照点的强度值之差的绝对值;选取绝对值最小的参照点组;将所选取的参照点组中的两个参照点的平均强度值作为当前需补偿的坏点的强度值;当所有的参照点组中都有至少一个坏点时,从所有非坏点的参照点中选取与当前需补偿的坏点距离最近的参照点;如果有两个距离最近的参照点可供选取,则随机选取其中的一个参照点;将所选取的参照点的强度值作为当前需补偿的坏点的强度值;当所有的参照点均为坏点时,保持当前需补偿的坏点的强度值不变。 |
地址 |
100083 北京市海淀区学院路35号世宁大厦15层 |