发明名称 存储卡测试装置及其测试方法
摘要 本发明提供一种存储卡测试装置,用以执行自动化操作以测试存储卡。该存储卡测试装置包括一主机、一数据库、一处理单元及一接口。该主机用于存取一存储卡。该数据库维护多个测试脚本文件。该处理单元耦接于该数据库,根据对应于一待测装置的一装置识别值,及与该存储卡相关联的一通讯协议,该处理单元从一测试脚本文件之中,选择一测试项目。该接口连接于该处理单元及该主机,用以根据该测试项目,使该主机对该存储卡执行至少一存储卡命令。
申请公布号 CN101604272B 申请公布日期 2011.08.10
申请号 CN200810215712.X 申请日期 2008.09.02
申请人 慧国(上海)软件科技有限公司;慧荣科技股份有限公司 发明人 靖心悌;侯郁伶
分类号 G06F11/22(2006.01)I 主分类号 G06F11/22(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 陈亮
主权项 一种存储卡测试装置,包括:一主机,用以存取一存储卡;一数据库,用以维护多个测试脚本文件,其中,每一测试脚本文件包括至少一测试项目及一通讯协议,该测试项目取决于一待测装置所对应的一装置识别值,而该通讯协议与该存储卡相关联;一处理单元,耦接于该数据库,确认与该主机连接的该存储卡相关联的该通讯协议,根据该通讯协议及该待测装置对应的装置识别值,将包括至少一测试项目的测试脚本文件加载至该处理单元中;以及一接口,连接于该处理单元及该主机,用以根据该测试项目,使该主机对该存储卡执行至少一存储卡命令,其中,该处理单元通过比较该存储卡的一测试结果及该测试脚本文件,用以确认当前测试项目的执行为失败、成功或异常中止,最后于该测试脚本文件中确认该处理单元是否已执行所有选择的测试项目。
地址 200433 上海市杨浦区国泰路11号A楼18层