发明名称 |
分解集成电路布局的方法 |
摘要 |
本发明涉及一种分解集成电路布局的方法。本发明的各种实施例提供确保集成电路的布局是可分开的。在一方法实施例中,在具有一布局库的一客户场所产生一布局以作为输入,其中布局库提供已确认为可分开的且能够使用的示例性布局,和可避免导致冲突的布局。本发明的实施例亦提供一实时奇循环(real-time odd cycle)检查器,其中在布局产生期间,该检查器在冲突区域和奇循环出现时,实时将它们识别出来。为了减少内存的使用,可以分开各种装置的布局,以针对冲突来检查每一单独的布局或少数布局,而不是整个应用电路的一个大的布局。一旦在客户场所准备好布局,它就被发送到制造场所分解成二光罩并流片完成(taped-out)。本发明亦有揭露其它实施例。 |
申请公布号 |
CN102147821A |
申请公布日期 |
2011.08.10 |
申请号 |
CN201010546498.3 |
申请日期 |
2010.11.12 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
陈笔聪;池明辉;谢艮轩;王伟龙;黄文俊;刘如淦;高蔡胜;杨稳儒;张广兴;严永松 |
分类号 |
G06F17/50(2006.01)I |
主分类号 |
G06F17/50(2006.01)I |
代理机构 |
北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 |
代理人 |
陈红 |
主权项 |
一种分解集成电路布局的方法,其特征在于,包含下列步骤:提供多个颜色集,该些颜色集数目为N,每一该些颜色集对应于一集成电路的一布局,及以A1至AN表示;将一组指标f1至fN对应到该些颜色集A1至AN,其中一指标fi对应至一颜色集Ai;确认至少一潜在合并者M的一数目,其对应于该颜色集Ai和一颜色集Aj,其中i<>j;确认至少一潜在分割者CT的一数目,其对应于该颜色集Ai和该颜色集Aj;将该潜在合并者M的该数目和该潜在分割者CT的该数目间的差值设为一指标Aij,其中Aij=Aji;获得多个参数F,其相关于指数Aij;根据该指数Aij的一定义,从该些参数F中选择一参数F。 |
地址 |
中国台湾新竹市新竹科学工业园区力行六路八号 |