用于调整高频脉冲的场强的方法和为此的磁共振测量系统

摘要

本发明描述了一种用于调整在磁共振测量中由磁共振测量系统(1)的高频天线(4)发出的高频脉冲的场强的方法。在此，首先通过由有关高频天线(4)发出带有确定脉冲幅度的高频脉冲(HFA，HFR1，HFR2)对一个试验体积层(VP)进行激励，并且沿该试验体积层(VP)的一个伸展方向(x)确定一维位置分辨的特征值(α(x))，这些特征值分别代表了该试验体积层(VP)的垂直于该伸展方向(x)延伸的条(S)中的B1场的局部场强。然后，至少在一个确定的片段(a，a′，a″)上沿所述试验体积层(VP)的伸展方向(x)上求出所确定的特征值的平均值(αM)。最后，在该平均值(αM)的基础上确定为待实施的磁共振测量的、待设置的高频脉冲的脉冲幅度。此外，本发明还描述了一种对应的磁共振测量系统(1)，其中，可以利用这种方法进行调整。

主权项

一种用于调整在磁共振测量中由磁共振测量系统(1)的高频天线(4)发出的高频脉冲的场强的方法，其中，‑首先，通过由有关高频天线(4)发出带有特定脉冲幅度的高频脉冲(HFA，HFR1，HFR2)对一个试验体积层(VP)进行激励，并且沿该试验体积层(VP)的一个伸展方向(x)确定一维位置分辨的特征值(α(x))，这些特征值分别代表了该试验体积层(VP)的垂直于该伸展方向(x)延伸的条(S)中的B1场的局部场强，‑然后，至少在一个确定的片段(a，a′，a″)上沿所述试验体积层(VP)的伸展方向(x)求出所确定的特征值的平均值(αM)，‑以及随后，在该平均值(αM)的基础上确定有待为待实施的磁共振测量设置的、高频脉冲的脉冲幅度。