发明名称 一种材料辐射诱导电导率参数的测量装置
摘要 本发明涉及一种材料辐射诱导电导率参数的测量装置,属于空间应用技术领域。所述装置包括上盖、上电极、下电极、绝缘层和底座;上盖和底座连接构成装置的接地外壳,在外壳中,上电极位于下电极上方,上、下电极与上盖、底座之间设有绝缘层,上、下电极之间安放需测试的材料,材料的上、下表面分别与上、下电极相接触;上盖、上电极、下电极、绝缘层和底座固定连接,有正对材料的通孔贯穿上盖、上电极以及上盖和上电极之间的绝缘层,通孔的面积小于材料面积。通过所述装置,可测得材料在电子环境下的电流和电压,再通过公式δ=l·I/S/V即可计算得到材料的辐射诱导电导率,为评价材料在空间中的使用性能提供了方便快捷的装置和方法。
申请公布号 CN102147431A 申请公布日期 2011.08.10
申请号 CN201010617912.5 申请日期 2010.12.31
申请人 中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所 发明人 柳青;孔风连;李存惠;秦晓刚;汤道坦;陈益峰
分类号 G01R27/02(2006.01)I 主分类号 G01R27/02(2006.01)I
代理机构 北京理工大学专利中心 11120 代理人 杨志兵;张利萍
主权项 一种材料辐射诱导电导率参数的测量装置,其特征在于:所述装置包括上盖(1)、上电极(2)、下电极(3)、绝缘层和底座(4);其中,上盖(1)和底座(4)连接构成所述装置的接地外壳,在所述外壳中,上电极(2)位于下电极(3)上方,上电极(2)、下电极(3)与上盖(1)、底座(4)之间设有绝缘层,使上电极(2)、下电极(3)不与上盖(1)、底座(4)相接触,上电极(2)和下电极(3)之间留有空隙以安放需测试的样品材料,样品材料的上表面与上电极(2)相接触,下表面与下电极(3)相接触;上盖(1)、上电极(2)、下电极(3)、绝缘层和底座(4)固定连接,有正对样品材料的通孔(5)贯穿上盖(1)、上电极(2)以及上盖(1)和上电极(2)之间的绝缘层,通孔(5)的面积小于样品材料面积;所述上盖(1)、上电极(2)、下电极(3)和底座(4)的材料为金属材料,绝缘层使用绝缘材料。
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