发明名称 一种用<sup>60</sup>Coγ射线开展位移损伤试验的装置
摘要 本发明涉及一种用60Coγ射线开展位移损伤试验的装置,属于空间应用技术领域。所述装置为铝屏蔽层,所述铝屏蔽层放置在60Coγ射线辐照源与辐照样品之间,60Coγ射线辐照源发射出的60Coγ射线经过屏蔽层后到达辐照样品,屏蔽层的厚度为15~120mm;优选铝屏蔽层将辐照样品封闭包围,其中正对60Coγ射线辐照源的铝屏蔽层一面的厚度为15~120mm。本发明所述铝屏蔽层使60Coγ射线在受辐照样品中产生均匀位移损伤剂量沉积,相比样品直接暴露在60Coγ射线辐照场,克服了由于位移损伤在材料表面随入射深度急剧变化造成的误差。
申请公布号 CN102147437A 申请公布日期 2011.08.10
申请号 CN201010617883.2 申请日期 2010.12.31
申请人 中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所 发明人 冯展祖;李存惠;王云飞;高欣;田海;曹家玮
分类号 G01R31/00(2006.01)I;G01T1/02(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 北京理工大学专利中心 11120 代理人 杨志兵;张利萍
主权项 一种用60Coγ射线开展位移损伤试验的装置,其特征在于:所述装置为铝屏蔽层,所述铝屏蔽层放置在60Coγ射线辐照源与辐照样品之间,60Coγ射线辐照源发射出的60Coγ射线经过屏蔽层后到达辐照样品,屏蔽层的厚度为15~120mm。
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