发明名称 一种可更换式内存测试座
摘要 本实用新型涉及一种内存测试座,具体是一种可实现同时对多个内存测试的可更换式内存测试座。该测试座,包括PCB板、PCB板上固定的测试座以及连接至电脑的USB接口,所述测试座为两个或两个以上,所述各测试座分别连接至USB座,USB座上连接测试方案,所述USB座通过集线器与所述USB接口连接,所述各测试座分别对应设有状态指示灯及控制开关。本实用新型在同一PCB板上同时集成多种不同的内存测试座,并且采用插接的方式连接各种不同的测试方案,从而可实现同时对多种不同的内存,单种或多种内存不同的测试方案同时进行测试的目的,不但大大提高检测效率,而且无需制造多个测试设备,降低了企业生产检测成本。
申请公布号 CN201927361U 申请公布日期 2011.08.10
申请号 CN201120005714.3 申请日期 2011.01.10
申请人 彭玉元 发明人 彭玉元
分类号 G11C29/56(2006.01)I 主分类号 G11C29/56(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种可更换式内存测试座,包括PCB板、PCB板上固定的测试座以及连接至电脑的USB接口,其特征在于,所述测试座(3)为两个或两个以上,所述各测试座(3)分别连接至USB座(6),USB座(6)上连接测试方案(7),所述USB座(6)通过集线器(8)与所述USB接口(2)连接。
地址 518000 广东省深圳市福田区华强北中电万商汇电子城5037A