发明名称 INTEGRATED CIRCUIT AND TEST METHOD THEREFOR
摘要
申请公布号 EP2353018(A1) 申请公布日期 2011.08.10
申请号 EP20090745123 申请日期 2009.10.21
申请人 NXP B.V. 发明人 DHAYNI, ACHRAF
分类号 G01R31/317 主分类号 G01R31/317
代理机构 代理人
主权项
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