发明名称 METHOD FOR INSPECTING STRUCTURES OF TEST SUBSTRATES
摘要 <p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Inspektion von Testsubstraten in einem Prober, welcher einen Chuck zur Aufnahme des Testsubstrats (2), eine Inspektionseinheit mit einer Kamera zur Inspektion des Testsubstrats (2), eine Bewegungsvorrichtung zur Bewegung des Chucks und/oder der Inspektionseinheit, eine Steuereinheit zur Steuerung der Bewegungsvorrichtung und eine Anzeige zur Darstellung eines mittels der Kamera aufgenommenen Bildes aufweist. Zur Inspektion wird ein Übersichtsbild (1) erzeugt vom Testsubstrat (2), indem eine Mehrzahl von Einzelbildern (4) in verschiedenen Positionen des Testsubstrats (2) aufgenommen und auf der Anzeige zum Übersichtsbild (1) zusammengefügt werden. Jedes Einzelbild (4) wird zusammen mit den Koordinaten der Position, in der es aufgenommen wurde, gespeichert. Zur Navigation auf dem Testsubstrat wird ein Einzelbild (4) im Übersichtsbild (1) ausgewählt, worauf eine mit dem Einzelbild (4) verknüpfte Position mittels der Bewegungsvorrichtung angefahren und dort eine Abbildung des dann im Sichtfeld (6) der Inspektionseinheit befindlichen Ausschnitts des Testsubstrats (2) erzeugt wird.</p>
申请公布号 WO2011091894(A1) 申请公布日期 2011.08.04
申请号 WO2010EP68996 申请日期 2010.12.06
申请人 CASCADE MICROTECH DRESDEN GMBH;TEICH, MICHAEL;FEHRMANN, FRANK;THAERIGEN, THOMAS;FIEDLER, JENS;HACKIUS, ULF 发明人 TEICH, MICHAEL;FEHRMANN, FRANK;THAERIGEN, THOMAS;FIEDLER, JENS;HACKIUS, ULF
分类号 G01B11/00;G01N21/88;G01R31/28;G06T7/00 主分类号 G01B11/00
代理机构 代理人
主权项
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