发明名称 含有缩合类聚合物的半导体用防反射膜
摘要 本发明的课题在于提供一种防反射效果好、不发生与光致抗蚀剂的混合、可以用于使用ArF准分子激光和F2准分子激光等照射光的光刻工艺中的防反射膜,及用于形成防反射膜的组合物。本发明提供一种形成防反射膜的组合物,其特征在于,含有具有嘧啶三酮结构、咪唑烷二酮结构、咪唑烷三酮结构或三嗪三酮结构的聚合物和溶剂。
申请公布号 CN1965268B 申请公布日期 2011.08.03
申请号 CN200580018731.8 申请日期 2005.04.06
申请人 日产化学工业株式会社 发明人 岸冈高广;坂本力丸;广井佳臣;丸山大辅
分类号 G03F7/11(2006.01)I;C08L79/04(2006.01)I;C09D163/00(2006.01)I;C09D179/04(2006.01)I;H01L21/027(2006.01)I 主分类号 G03F7/11(2006.01)I
代理机构 北京市中咨律师事务所 11247 代理人 段承恩;田欣
主权项 1.一种形成防反射膜的组合物,含有具有式(1)所示结构的聚合物和溶剂,进一步含有交联性化合物,上述交联性化合物是含有2~4个被羟甲基或烷氧基甲基取代的氮原子的含氮化合物,式(1):<img file="FSB00000364444800011.GIF" wi="1017" he="292" />式中,A<sub>1</sub>、A<sub>2</sub>、A<sub>3</sub>、A<sub>4</sub>、A<sub>5</sub>、和A<sub>6</sub>,分别表示氢原子、甲基或乙基,X<sub>1</sub>表示式(2)、式(3)、式(4)、或式(5):<img file="FSB00000364444800012.GIF" wi="1021" he="286" />式中,R<sub>1</sub>和R<sub>2</sub>分别表示氢原子、碳原子数1~6的烷基、碳原子数为3~6的链烯基、苄基、或苯基,而且,上述苯基可以被选自碳原子数为1~6的烷基、卤原子、碳原子数为1~6的烷氧基、硝基、氰基、羟基和碳原子数为1~6的烷基硫基中的基团取代,另外,R<sub>1</sub>和R<sub>2</sub>可以互相结合形成碳原子数为3~6的环,R<sub>3</sub>表示碳原子数为1~6的烷基、碳原子数为3~6的链烯基、苄基或苯基,而且,上述苯基可以被选自碳原子数为1~6的烷基、卤原子、碳原子数为1~6的烷氧基、硝基、氰基、羟基和碳原子数为1~6的烷基硫基中的基团取代,Q表示式(6)或式(7),<img file="FSB00000364444800013.GIF" wi="893" he="328" />式中Q<sub>1</sub>表示碳原子数为1~10的亚烷基、亚苯基、亚萘基、或亚蒽基,而且,上述亚苯基、亚萘基、和亚蒽基可以分别被选自碳原子数为1~6的烷基、卤原子、碳原子数为1~6的烷氧基、硝基、氰基、羟基和碳原子数为1~6的烷基硫基中的基团取代,n<sub>1</sub>及n<sub>2</sub>分别表示0或1,X<sub>2</sub>表示式(2)、式(3)、或式(5),其中,具有上述式(1)所示结构的聚合物是通过式(8)所示化合物、和式(9)所示化合物的反应来制造的聚合物,<img file="FSB00000364444800021.GIF" wi="1047" he="351" />式中,A<sub>1</sub>、A<sub>2</sub>、A<sub>3</sub>、A<sub>4</sub>、A<sub>5</sub>、A<sub>6</sub>、X<sub>1</sub>和Q表示与上述定义相同的含义,或者,具有上述式(1)所示结构的聚合物是通过式(10)所示化合物和式(11)所示化合物的反应来制造的聚合物,<img file="FSB00000364444800022.GIF" wi="1089" he="344" />式中,A<sub>1</sub>、A<sub>2</sub>、A<sub>3</sub>、A<sub>4</sub>、A<sub>5</sub>、A<sub>6</sub>、X<sub>1</sub>和Q表示与上述定义相同的含义。
地址 日本东京都