发明名称 轮胎均一性分析系统及其分析方法
摘要 本发明目的在于提供一种轮胎均一性分析系统设备及其分析方法,该系统包括:光源,其用于对轮胎照射光;正弦衍射光栅,其配置在上述轮胎和光源之间;拍摄单元,其对显示有正弦图案的上述轮胎进行拍摄,上述正弦图案是由透过上述正弦衍射光栅的光源而形成的;分析设备,其对由上述拍摄单元所拍摄的轮胎的正弦图案进行分析并判断上述轮胎的均一性。由此,能够测量轮胎的无负荷状态下的半径变动、无负荷状态下的宽度变动、以及侧壁表面局部的变形等。这时,由于在一次拍摄到的图像上就能够对轮胎的均一性进行分析,因此,能够非常正确且迅速地测量轮胎的均一性。另外,由于不仅用画面还可以用定量的数值数据来表示测量结果,因此分析简便且有效。
申请公布号 CN101620177B 申请公布日期 2011.08.03
申请号 CN200810178966.9 申请日期 2008.12.03
申请人 韩国轮胎株式会社 发明人 李元赫
分类号 G01N21/41(2006.01)I 主分类号 G01N21/41(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 经志强;王艳江
主权项 一种轮胎均一性分析系统,其特征在于,具备:光源,其用于对轮胎照射光;正弦衍射光栅,其配置在上述轮胎和光源之间;拍摄单元,其对显示了正弦图案的上述轮胎进行拍摄,上述正弦图案是由来自光源的照射光透过上述正弦衍射光栅形成的;分析设备,其对由上述拍摄单元所拍摄的轮胎的正弦图案进行分析来判断上述轮胎的均一性,形成于上述轮胎上的正弦图案,用表示照射光的强度的如下的数学式1表示,数学式1:I=A(x,y)sin(φ(x,y)+1)这里,A表示频带范围,φ表示光的相位,1表示轮胎周围的较暗部分,上述分析设备对上述数学式1进行傅立叶变换以及简化从而变换为如下的数学式4,数学式4: <mrow> <mi>F</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>I</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>x</mi> <mo>,</mo> <mi>y</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mo>)</mo> </mrow> <mo>=</mo> <mfrac> <mn>1</mn> <mn>2</mn> </mfrac> <mo>[</mo> <mi>F</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>Aexp</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>i&phi;</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mo>)</mo> </mrow> <mo>]</mo> </mrow>对上述数学式4进行逆傅立叶变换并计算出轮胎表面的相位信息。
地址 韩国首尔