发明名称 配备有像差校正装置的粒子光学器具
摘要 在TEM、STEM、或SEM中应用的四极-八极校正器。用于校正物镜的三阶与五阶像差的已知的校正器用八个四极和三个八极来实现。按照本发明的校正器具有至少相同的像差校正能力,但按照本发明的校正器是用六个四极和三个八极实现的。通过把具有相对较弱的激励的八极添加到一部分四极,还可得到对物镜的各向异性的慧形像差的校正。通过把所有的四极或四极的一部分实施为电磁的,还可以校正色度像差。
申请公布号 CN1847913B 申请公布日期 2011.08.03
申请号 CN200610074091.9 申请日期 2006.04.04
申请人 FEI公司 发明人 A·亨斯特拉
分类号 G02B21/02(2006.01)I;G02B7/00(2006.01)I 主分类号 G02B21/02(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 程天正;张志醒
主权项 一种配备有物镜并配备有用于校正该物镜的透镜误差的像差校正装置的粒子光学器具,该像差校正装置包括:‑第一组光学单元,接连地包含第一、第二和第三四极透镜和第一八极;‑第二组光学单元,接连地包含第二八极和第四、第五和第六四极透镜;以及‑至少一个第三八极,被放置在两组光学单元的外面,‑由此第一和第二八极与第三和第四四极透镜被放置在一侧的第一和第二四极与另一侧的第五和第六四极之间,其中四极透镜确定带电粒子在像差校正装置中的路径,其特征在于,‑在第一轴平面上,第一和第二八极不互相在其上成像,而第二和第三八极互相在其上成像,其中所述第一轴平面是指x‑z平面;‑在垂直于第一轴平面的第二轴平面上,第一和第二八极不互相在其上成像,而第一和第三八极互相在其上成像,其中所述第二轴平面是指y‑z平面;以及‑在第一轴平面上轴向光束通过第一八极的轴点传送,和在第二轴平面上轴向光束通过第二八极的轴点传送,‑结果,物镜的三阶透镜误差得到校正。
地址 美国俄勒冈州