发明名称 |
巨型回转支承零件的轮廓的就地精密检测仪 |
摘要 |
一种巨型回转支承零件的轮廓的就地精密检测仪,包括起定位作用的精确定位装置、壳体、驱动电机、导轨升降装置连和测量机构,该测量机构包括一用于记录被测零件轴向方向移动位移量的直线光栅系统、一用于记录被测零件径向方向移动位移量的圆端面光栅系统、以及包括弹性支承的一触针组件;所述直线光栅系统和圆端面光栅系统均与一控制处理装置连接。本发明通过采用接触扫描的方法,利用两套光栅系统记录触针在扫描过程中平行于被测零件轴向和垂直于被测零件轴向的瞬时位移,实现了巨型回转支承零件的轮廓的就地测量。 |
申请公布号 |
CN102141382A |
申请公布日期 |
2011.08.03 |
申请号 |
CN201010104558.6 |
申请日期 |
2010.02.02 |
申请人 |
上海泰勒精密仪器制造有限公司 |
发明人 |
陈建敏;孙宪政 |
分类号 |
G01B11/24(2006.01)I |
主分类号 |
G01B11/24(2006.01)I |
代理机构 |
上海天翔知识产权代理有限公司 31224 |
代理人 |
高泉生 |
主权项 |
一种巨型回转支承零件的轮廓的就地精密检测仪,其特征在于,包括:一壳体;一设置于壳体内的驱动电机;一与驱动电机传动连接的导轨升降装置;一测量机构,所述测量机构设置在导轨升降装置上,所述测量机构包括一用于记录轴向位移量的直线光栅系统、一用于记录径向位移量的圆端面光栅系统、以及一包括弹性支承机构的触针组件;所述触针组件的触针尖端用于与被测零件进行接触扫描,所述触针组件与弹性支承机构相连接,所述弹性支承机构固定在导轨升降装置上;一控制处理装置,所述直线光栅系统和圆端面光栅系统均与所述控制处理装置连接。 |
地址 |
200125 上海市浦东新区杨高南路1998号B栋4楼 |