一种NAND Flash存储芯片ECC校验算法的识别方法

摘要

本发明涉及一种NAND Flash存储芯片ECC校验算法的识别方法，包括以下步骤：一、根据已知的ECC校验码字段长度必须大于等于可能采用的ECC校验算法生成的校验码长度的原则推测匹配的ECC校验算法；二、对步骤一的推测结果进行验证；三、利用识别的ECC校验算法以及标准ECC校验码和存储ECC校验码之间的对应关系，进行错误数据的定位和纠错。采用本发明能够在无flash控制器和硬件ECC校验模块参与的情况下，识别手机内置NAND Flash芯片采用的ECC校验算法，发现实际存储的ECC校验码与对应校验算法计算出的标准校验码之间的对应关系，并对物理镜像中的错误数据进行定位和纠错，确保NAND Flash芯片内物理镜像数据的准确和有效。

主权项

一种NAND Flash存储芯片ECC校验算法的识别方法，其特征在于，包括以下步骤：一、根据已知的ECC校验码字段长度必须大于等于可能采用的ECC校验算法生成的校验码长度的原则推测匹配的ECC校验算法；二、对步骤一的推测结果进行验证，并确定标准ECC校验码和存储ECC校验码之间的对应关系，如不正确则继续对下一个推测结果进行验证；三、利用上述识别的ECC校验算法以及标准ECC校验码和存储ECC校验码之间的对应关系，检验物理镜像文件中每个物理页的数据是否有错误，如果有，则将其存储的ECC校验码按比特转换成标准ECC校验码的形式，利用对应ECC校验算法的纠错算法进行错误数据的定位和纠错。