发明名称 |
电阻转换存储器的制造方法 |
摘要 |
本发明揭示一种多晶硅肖特基二极管及其制造方法、电阻转换存储器的制造方法。多晶硅肖特基二极管包括多晶硅半导体层、及与多晶硅形成肖特基接触的金属层。所述半导体层为通过金属诱导法、或气相沉积法、或准分子激光脉冲法制备得到的多晶硅材料。所述金属层与多晶硅层之间形成稳定的肖特基接触,所述金属层为金属单质、或为合金。本发明通过多晶硅的沉积辅助以退火处理,使其与特定金属形成肖特基接触制造肖特基二极管,成本上具有竞争力,更有望在三维的立体电阻转换存储电路中得到广泛应用。 |
申请公布号 |
CN101465383B |
申请公布日期 |
2011.08.03 |
申请号 |
CN200810205004.8 |
申请日期 |
2008.12.30 |
申请人 |
中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
发明人 |
张挺;宋志棠;刘波;封松林;陈邦明 |
分类号 |
H01L29/872(2006.01)I;H01L21/82(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/872(2006.01)I |
代理机构 |
上海光华专利事务所 31219 |
代理人 |
余明伟;冯珺 |
主权项 |
一种制造基于多晶硅肖特基二极管的电阻转换存储器阵列的方法,其特征在于,其包括如下步骤:C1、在基底上,制造出浅沟槽阵列,在浅沟槽中沉积第一类型导电材料,形成的第一类型导电材料线条作为字线;C2、沉积重掺杂多晶硅,避免多晶硅与第一类型导电字线之间形成金属‑半导体接触;C3、沉积轻掺杂多晶硅,作为肖特基二极管的半导体层;C4、退火处理;C5、沉积与轻掺杂多晶硅形成金属‑半导体接触的第二类型金属,第二类型金属层与轻掺杂多晶硅之间形成肖特基接触,此外,第二类型金属层还作为电阻转换存储器的电极;C6、通过牺牲层材料的沉积和回刻工艺,在浅沟槽中的金属层上制造出侧墙;C7、沉积电阻转换存储介质材料,沉积完毕后采用化学机械抛光工艺进行平坦化,仅保留侧墙内的存储材料;C8、沉积第三类型电极材料,通过光刻工艺制造出位线,制造位线过程中的刻蚀深度直到第一类型导电材料的上方,将多晶硅、第二类型金属以及存储介质材料分隔成分立的单元,形成肖特基二极管单元和存储单元;C9、通过绝缘介质材料的填充和平坦化工艺,最终得到基于多晶硅肖特基二极管的电阻转换存储器阵列。 |
地址 |
200050 上海市长宁区长宁路865号 |