发明名称 | 用于测量管道中的介质的体积流量与质量流量的装置 | ||
摘要 | 本发明涉及一种用于测量管道中的介质(11)的体积流量或质量流量的装置,所述装置带有:测量管(2),介质(11)沿着测量管(2)的纵轴线(3)方向穿流测量管;磁体系统(6、7),其产生穿过测量管(2)并基本横向于测量管(2)纵轴线(3)方向分布的磁场(B);至少一个与介质(11)相耦合的测量电极(4、5),其在基本垂直于磁场(B)的区域中布置在测量管(2)壁部的孔(27)中,测量电极(4、5)具有细长的电极杆(18),电极杆(18)带有与介质相耦合的加宽的第一末端区域(19),第一末端区域(19)的直径(D)大于测量管(2)壁部中的孔(27)的直径(d),测量电极(4、5)放置于所述孔(27)中;和调节/评估单元(8),其根据在至少一个测量电极(4、5)中感生的测量电压(U)来提供关于测量管(2)中介质(11)体积流量或质量流量的信息。在测量电极(4、5)电极杆(18)的相反的第二末端区域中,布置有至少一个径向凹槽(21)或径向凸起。另外,还设置有夹紧或卡位元件(22),其在与至少一个径向凹槽(21)或凸起相嵌合的情况下,在轴向上将测量电极(4、5)固定在测量管(2)壁部的孔(27)中。 | ||
申请公布号 | CN101542241B | 申请公布日期 | 2011.08.03 |
申请号 | CN200780042663.8 | 申请日期 | 2007.11.15 |
申请人 | 恩德斯+豪斯流量技术股份有限公司 | 发明人 | 弗兰克·沃伊特;贡特尔·巴赫尔 |
分类号 | G01F1/58(2006.01)I | 主分类号 | G01F1/58(2006.01)I |
代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人 | 孙志湧;樊卫民 |
主权项 | 用于测量管道中的介质(11)的体积流量或质量流量的装置,所述装置带有:测量管(2),所述介质(11)沿着所述测量管(2)的纵轴线(3)的方向穿流所述测量管(2);磁体系统(6、7),所述磁体系统(6、7)被构造为产生穿过所述测量管(2)并基本横向于所述测量管(2)的所述纵轴线(3)分布的磁场(B);至少一个与所述介质(11)相耦合的测量电极(4、5),所述测量电极(4、5)在基本垂直于所述磁场(B)的区域中布置在所述测量管(2)的壁部的孔(27)中,其中,所述测量电极(4、5)具有细长的电极杆(18),所述电极杆(18)带有与介质相耦合的加宽的第一末端区域(19),所述第一末端区域(19)被如此地设定尺寸,即,所述第一末端区域(19)的直径(D)大于所述测量管(2)的所述壁部中的孔(27)的直径(d),所述测量电极(4、5)放置于所述孔(27)中;和调节/评估单元(8),所述调节/评估单元(8)根据在至少一个测量电极(4、5)中感生的测量电压提供关于所述测量管(2)中所述介质(11)体积流量或质量流量的信息,其特征在于,在所述测量电极(4、5)的所述电极杆(18)的相反的第二末端区域中,设置有至少一个径向凹槽(21)或径向凸起,以及设置有夹紧或卡位元件(22),即,所述夹紧或卡位元件(22)在与所述至少一个径向凹槽(21)或凸起相嵌合的情况下,在轴向上将所述测量电极(4、5)固定在所述测量管(2)的所述孔(27)中。 | ||
地址 | 瑞士赖纳赫 |