发明名称 发光二极体导通电压检测方法
摘要
申请公布号 申请公布日期 2011.08.01
申请号 TW096136819 申请日期 2007.10.01
申请人 南台科技大学 发明人 邱裕中;林陞羽
分类号 H01L33/00 主分类号 H01L33/00
代理机构 代理人 陈金铃 台南市安平区建平五街122号
主权项 一种发光二极体导通电压检测方法,该检测方法主要系为:1.分别量测得到该发光二极体电极图形之整体长度及整体宽度,且将该长度与宽度相乘得到该发光二极体电极图形整体之面积;2.分别量测得到该发光二极体之电极图形中的正电极〔P极〕总长度与负电极〔N极〕总长度,再将该正电极〔P极〕总长度与负电极〔N极〕总长度相加;3.将该所量测得到该发光二极体之电极图形中,正电极〔P极〕总长度加上负电极〔N极〕总长度后,再除以发光二极体电极图形之整体长度与宽度相乘所得到的发光二极体电极图形之整体面积;4.如此一来,即可比较各个不同电极图形设计之发光二极体经由前述步骤所得到之比值,而可得知所设计之发光二极体导通电压之高低,比值越低者其导通电压越高,反之,比值越高者则其导通电压越低。
地址 台南市永康区南台街1号