发明名称 SYSTEME ET PROCEDE D'EVALUATION DE DEFORMATIONS INHOMOGENES DANS DES PLAQUES MULTICOUCHES
摘要 <p>L'invention concerne un procédé d'évaluation de déformations inhomogènes dans une première plaque (110), la première plaque étant collée par adhésion moléculaire sur une deuxième plaque (120). Ce procédé d'évaluation comprend une étape de réalisation d'au moins un relevé d'une pluralité de points de mesure, le relevé correspondant à un profil de surface de la première plaque suivant une direction déterminée et sur une longueur déterminée, une étape de calcul d'une dérivée seconde à partir des points de mesure du profil de surface et une étape d'évaluation d'un niveau de déformations inhomogènes dans la première plaque en fonction de la dérivée seconde. L'invention concerne en outre un dispositif (147) permettant d'évaluer de telles déformations inhomogènes.</p>
申请公布号 FR2955654(A1) 申请公布日期 2011.07.29
申请号 FR20100050468 申请日期 2010.01.25
申请人 SOITEC SILICON INSULATOR TECHNOLOGIES 发明人 BROEKAART MARCEL;CASTEX ARNAUD;MARINIER LAURENT
分类号 G01B17/04;H01L21/02 主分类号 G01B17/04
代理机构 代理人
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