发明名称 Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung mit epitaktisch gefülltem Graben und Halbleitervorrichtung mit epitaktisch gefülltem Graben
摘要 Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung, das die folgenden Schritte aufweist: Vorbereiten eines Halbleitersubstrates (1, 41, 42), das als Hauptfläche (1a) eine Si{100}-Fläche hat, Ausbilden eines ersten Grabens (2, 50), der durch eine Bodenfläche (2c, 50c), zwei einander gegenüber liegende lange Seitenwandflächen (2a, 50a) und zwei einander gegenüber liegende kurze Seitenwandflächen (2b, 50b) definiert wird, in der Hauptfläche (1a) derart, daß die langen Seitenwandflächen (2a, 50a) Si{100}-Flächen sind, und Ausbilden einer Halblei2a, 50a, 2b, 50b) und der Bodenfläche (2c, 50c) des Grabens (2, 50) durch Epitaxie.
申请公布号 DE10323242(B4) 申请公布日期 2011.07.28
申请号 DE2003123242 申请日期 2003.05.22
申请人 DENSO CORPORATION 发明人 YAMAUCHI, SHOICHI;YAMAGUCHI, HITOSHI;SAKAKIBARA, JUN;TSUJI, NOBUHIRO
分类号 H01L21/20;H01L21/336;H01L29/04;H01L29/06;H01L29/12;H01L29/423;H01L29/78 主分类号 H01L21/20
代理机构 代理人
主权项
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