| 摘要 |
<p>Hochauflösendes Mikroskop–und Verfahren zur zwei- oder dreidimensionalen Positionsbestimmung von Objekten, mit mindestens einem der folgenden Verfahrensschritte a)–o): a) mittels anamorphotischen Optik, vorzugsweise einer Zylinderlinse in der Abbildung wird über die Orientierung und Form abgebildeter Teilchen oder Moleküle ihre vertikale (Z) Position ermittelt b) im Detektionsstrahlengang erfolgt eine Aufspaltung in mindestens zwei Detektions-Teilstrahlengänge mit unterschiedlicher optischer Weglänge die auf einem Detektor versetzt detektiert werden c) eine Aktivierung oder Umschaltung erfolgt durch einen Mehrphotonen-Anregungsprozeß, vorzugsweise eine Zweiphotonenanregung d) es erfolgt eine punktscannende Aktivierung oder Umschaltung e) es erfolgt eine linienscannende Aktivierung oder Umschaltung f) die Anregung der Probe und Detektion des Probenlichtes erfolgt im Weitfeldmodus g) manuell oder automatisch vorbestimmte Probenregionen werden aktiviert oder umgeschaltet h) die Aktivierung oder Umschaltung erfolgt durch AOTF oder SLM oder DMD i) über ein spektral aufspaltendes Element, vorzugsweise ein Gitter werden Laserpulse zum Aktivieren oder Schalten spektral aufgespaltet j) ein SLM oder DMD im Strahlengang nach dem Gitter nimmt eine gesteuerte Auswahl aufgespalteter Laserpulsanteile vor k) die Laserweitfeldanregung wird durch SLM oder DMD geführt l) es werden ROI durch SLM oder DMD selektiert m) eine Mehrphotonenschaltung oder Aktivierung erfolgt über ein Mikrolinsenarray, vorzugsweise ein Zylinderlinsenarray n) Schalten und/oder Anregung erfolgt durch einen Linienscanner o) eine Liniendetektion erfolgt über einen ortsaufgelösten Sensor, wobei über eine Spaltblendenstellung mit mindestens zwei Sensorreihen, jeweils aus mehreren Sensoren bestehend, mit Probenlicht beleuchtet werden</p> |
