发明名称 地表粗糙度测量装置及地表粗糙度测量方法
摘要 本发明涉及地表粗糙度测量装置及地表粗糙度测量方法。一种地表粗糙度测量装置,该测量装置包括处理装置、移动装置、测距装置及支撑装置。所述处理装置用于所述测量装置的系统控制,获得所述测距装置的测量数据,所述移动装置被连接至所述处理装置及所述测距装置,由所述处理装置控制所述移动装置移动,以调整所述测距装置的姿势,所述测距装置用于测量距地表上的特定测量点之间的距离,并且将测得数据传输至所述处理装置,所述支撑装置支撑所述处理装置、所述移动装置和所述测距装置,用于将所述测距装置置于预定高度。本发明实用可行,操作便利,携带方便,适用于野外各种地表粗糙度的测量工作。
申请公布号 CN102135423A 申请公布日期 2011.07.27
申请号 CN201010100771.X 申请日期 2010.01.25
申请人 中国科学院遥感应用研究所 发明人 杨荣
分类号 G01C5/00(2006.01)I;G01C3/00(2006.01)I;G01C9/00(2006.01)I 主分类号 G01C5/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种地表粗糙度测量装置,其特征在于,该测量装置包括处理装置、移动装置、测距装置及支撑装置,所述处理装置用于所述测量装置的系统控制,获得所述测距装置的测量数据,所述移动装置被连接至所述处理装置及所述测距装置,由所述处理装置控制所述移动装置移动,以调整所述测距装置的姿势,所述测距装置用于测量距地表上的特定测量点之间的距离,并且将测得数据传输至所述处理装置,所述支撑装置支撑所述处理装置、所述移动装置和所述测距装置,用于将所述测距装置置于预定高度。
地址 100101 北京市朝阳区大屯路甲20号北北京9718信箱
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