发明名称 |
地表粗糙度测量装置及地表粗糙度测量方法 |
摘要 |
本发明涉及地表粗糙度测量装置及地表粗糙度测量方法。一种地表粗糙度测量装置,该测量装置包括处理装置、移动装置、测距装置及支撑装置。所述处理装置用于所述测量装置的系统控制,获得所述测距装置的测量数据,所述移动装置被连接至所述处理装置及所述测距装置,由所述处理装置控制所述移动装置移动,以调整所述测距装置的姿势,所述测距装置用于测量距地表上的特定测量点之间的距离,并且将测得数据传输至所述处理装置,所述支撑装置支撑所述处理装置、所述移动装置和所述测距装置,用于将所述测距装置置于预定高度。本发明实用可行,操作便利,携带方便,适用于野外各种地表粗糙度的测量工作。 |
申请公布号 |
CN102135423A |
申请公布日期 |
2011.07.27 |
申请号 |
CN201010100771.X |
申请日期 |
2010.01.25 |
申请人 |
中国科学院遥感应用研究所 |
发明人 |
杨荣 |
分类号 |
G01C5/00(2006.01)I;G01C3/00(2006.01)I;G01C9/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01C5/00(2006.01)I |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
一种地表粗糙度测量装置,其特征在于,该测量装置包括处理装置、移动装置、测距装置及支撑装置,所述处理装置用于所述测量装置的系统控制,获得所述测距装置的测量数据,所述移动装置被连接至所述处理装置及所述测距装置,由所述处理装置控制所述移动装置移动,以调整所述测距装置的姿势,所述测距装置用于测量距地表上的特定测量点之间的距离,并且将测得数据传输至所述处理装置,所述支撑装置支撑所述处理装置、所述移动装置和所述测距装置,用于将所述测距装置置于预定高度。 |
地址 |
100101 北京市朝阳区大屯路甲20号北北京9718信箱 |