发明名称 面板缺陷定位机构
摘要 一种面板缺陷定位机构,其包括:一对第一座体,每一第一座体具有一第一滑轨、一第一轴向微调部及一第一位置定位模块;一第二座体有一对第一滑动部及一连结于对第一滑动部间的第二滑轨;对第一滑动部可滑动的设于该对第一滑轨上,使第二座体可沿一第一轴向移动,且利用第一轴向微调部作细微调整;一检测装置有一第二滑动部、一检视镜头、一第二轴向微调部、一第二位置定位模块及一光源发射部;第二滑动部可滑动的设于第二滑轨上,使检测装置可沿一第二轴向移动,且利用第二轴向微调部作细微调整;第一及第二位置定位模块可精确定位出检视镜头所对应的检视位置坐标;而光源发射部可产生一高对比度可见光。本发明移动容易、准确性佳,操作方便。
申请公布号 CN101561247B 申请公布日期 2011.07.27
申请号 CN200810093637.4 申请日期 2008.04.18
申请人 东捷科技股份有限公司 发明人 叶公旭;林祈廷
分类号 G01B11/00(2006.01)I 主分类号 G01B11/00(2006.01)I
代理机构 天津三元专利商标代理有限责任公司 12203 代理人 钱凯
主权项 一种面板缺陷定位机构,其特征在于,其包括:一对第一座体,该每一第一座体具有一第一滑轨、一第一轴向微调部及一第一位置定位模块;一第二座体,具有一对第一滑动部及一连结于该对第一滑动部间的第二滑轨;该对第一滑动部可滑动的设于该对第一滑轨上,使该第二座体可沿一第一轴向移动,且利用该第一轴向微调部作细微调整;一检测装置,具有一第二滑动部、一检视镜头、一第二轴向微调部、一第二位置定位模块及一光源发射部;该第二滑动部可滑动的设于该第二滑轨上,使该检测装置可沿一第二轴向移动,且利用该第二轴向微调部作细微调整;该第一位置定位模块及该第二位置定位模块可精确定位出该检视镜头所对应的检视位置坐标;而该光源发射部可产生一高对比度可见光;其中,该光源发射部所产生的高对比度可见光,其是与该检视镜头的中心轴线重叠,且可于一待测物件上产生一明显光点,且该明显光点即为该检测镜头的中心所对应的位置。
地址 中国台湾