一种电抗可控芯片测试插座

摘要

一种电抗可控芯片测试插座，由芯片保持板(2)、接地铜块(3)、探针定位板(6)、探针保持板(7)以及接地弹簧探针(4)与信号/电源弹簧探针(5)所组成。随着集成电路芯片运行速度的日益提高，可以满足测试行业要求芯片测试夹具，应具有更好高频集成信号，使其电抗(或阻抗)在某一特定范围内，以减少电信号通过时的损耗。同时，本发明在使用不同芯片(1)的触点分布发生变化时，只需要方便地更换探针定位板(6)，其它零件则不要改变，便可满足使用要求，大大提高了测试插座的加工性，降低了成本。

主权项

一种电抗可控芯片测试插座，包括有安装在插座上部的芯片保持板(2)和插座底部的探针保持板(7)，以及弹簧探针，其特征在于：探针保持板(7)的上部还装有一可活动拆卸的探针定位板(6)；而在芯片保持板(2)与探针定位板(6)之间，装配有接地铜块(3)；所述弹簧探针，分别有接地弹簧探针(4)和信号/电源弹簧探针(5)，分别插入接地铜块(3)相应的孔腔内，接地弹簧探针(4)的外径与接地铜块(3)相应孔腔内径相近，有良好的接触，信号/电源弹簧探针(5)的外径与接地铜块(3)相应的孔腔内径有一定的比例，为1∶2.1～1∶2.5；两者间存在着绝缘的空气介质。