发明名称 |
磁场测量装置 |
摘要 |
本发明揭示了一种磁场测量装置,用于测量微型多磁极磁铁的磁场,包括高斯计,还包括一底座,所述底座上设有一转盘支架,所述转盘支架一侧设有旋转盘,另一侧设有用于固定微型磁铁的磁铁架,所述磁铁架和旋转盘之间通过轴承连接转动;靠近所述磁铁架一侧的底座上设有用于固定所述高斯计的支架;所述微型磁铁包括至少2个测试点,所述旋转盘的旋转中心与所述各测试点的外接圆的圆心一致,所述高斯计的探头位于所述外接圆的圆周轨迹上。本发明只需通过转动旋转盘,即可使微型多磁极磁铁的测试点的位置精确地对准高斯计的探头,操作简单,使用方便,准确率高,提高了工作效率。 |
申请公布号 |
CN102135604A |
申请公布日期 |
2011.07.27 |
申请号 |
CN201110046374.3 |
申请日期 |
2011.02.25 |
申请人 |
哈姆林电子(苏州)有限公司 |
发明人 |
李海江 |
分类号 |
G01R33/07(2006.01)I |
主分类号 |
G01R33/07(2006.01)I |
代理机构 |
南京苏科专利代理有限责任公司 32102 |
代理人 |
陆明耀;陈忠辉 |
主权项 |
一种磁场测量装置,用于测量微型多磁极磁铁的磁场,包括高斯计,其特征在于:还包括一底座,所述底座上设有一转盘支架,所述转盘支架一侧设有旋转盘,另一侧设有用于固定微型磁铁的磁铁架,所述磁铁架和旋转盘之间通过轴承连接转动;靠近所述磁铁架一侧的底座上设有用于固定所述高斯计的支架;所述微型磁铁包括至少2个测试点,所述旋转盘的旋转中心与所述各测试点的外接圆的圆心一致,所述高斯计的探头位于所述外接圆的圆周轨迹上。 |
地址 |
215121 江苏省苏州市工业园区唯亭镇唯西路55号1A |