记忆卡测试模组及探针结构改良

主权项

一种记忆卡测试模组及探针结构改良，其主要包含插测单元及连测单元两大组件，该插测单元是由一插槽电路板于顶面组接一供记忆卡插测之插槽而成，该连测单元是由一延伸电路板两侧板面上方接设容置有复数个探针之探针座，再于探针座顶面连结一设有若干插孔并容置有个弹性探针之弹性探针座后容置于左支架上，再结合一右支架而固接成一单体形态，该插测单元以螺丝或卡扣接合于连测单元，使连测单元之弹性探针座的弹性探针顶端顶触插测单元底部之电路，而底端抵触探针座内之探针，让插测单元与连测单元形成电路导通形态。如申请专利范围第1项所述记忆卡测试模组及探针结构改良，其中之插测单元的插槽得为长槽或短槽形态。一种记忆卡测试模组及探针结构改良，该探针系装设于检测电脑记忆卡仪器中供记忆卡插置检测的模组结构中用以导接电路之探针座上的金属元件；其特点是，该金属探针为一F型设计，使其形成有直立板部，顶端为横置板部而中央横柱则为定位部；利用直立板部与顶端横置板部，使单一之探针能同时与横向位置及纵向位置的不同构件触靠导接为其目的。如申请专利范围第3项所述记忆卡测试模组及探针结构改良，其中之探针亦为金属制成之F形态而形成有直立板部，顶端为横置板部而中央横柱则为定位部，其主要系将横置板部形成向上弧凸的形态。