| 主权项 |
一种扩散频谱造影方法，包含以下步骤：(A)在Q空间下，以规则-非矩形取样晶格得到Q空间中复数个取样资料之位置，并据以得到一系列扩散加权磁振影像；及(B)将步骤(A)的该系列扩散加权磁振影像依照规则-非矩形取样晶格排列于Q空间中，并进行处理以得到机率密度函数；其中，步骤(A)包括以下子步骤：(A-1)接收使用者在Q空间中设定的一所需取样数目及一取样区域之范围；(A-2)在规则-非矩形取样晶格下，以叠代方式求得当一实际取样数目收敛至该所需取样数目时的取样间距；及(A-3)基于该取样间距及该规则-非矩形取样晶格，得到Q空间中该等取样资料之位置。依据申请专利范围第1项所述之扩散频谱造影方法，其中，该规则-非矩形取样晶格包含体心堆积取样晶格。依据申请专利范围第1项所述之扩散频谱造影方法，其中，该规则-非矩形取样晶格包含面心堆积取样晶格。依据申请专利范围第1项所述之扩散频谱造影方法，更包含步骤(C)，步骤(C)是对步骤(B)得到的机率密度函数进行处理，以得到方向分布函数。依据申请专利范围第1项所述之扩散频谱造影方法，其中，在步骤(B)中，是对步骤(A)的该系列扩散加权磁振影像进行反傅立叶转换，以得到机率密度函数。依据申请专利范围第1项所述之扩散频谱造影方法，其中，在步骤(B)中，先对步骤(A)的该系列扩散加权磁振影像进行球形视窗函数滤波，然后再进行反傅立叶转换，以得到机率密度函数。依据申请专利范围第1项所述之扩散频谱造影方法，其中，该取样区域是一球形取样区域，而于步骤(A-1)中，更接收使用者设定的该球形取样区域的半径。依据申请专利范围第7项所述之扩散频谱造影方法，其中，步骤(A-3)更基于步骤(A-2)的该取样间距及该规则-非矩形取样晶格，计算每一取样资料在Q空间中的座标，且将每一座标都乘上一比例，以得到更精确的座标，而该比例是在步骤(A-2)的取样间距下，位于该球形取样区域中最外面的取样资料与该球形取样区域的中心点之间的距离除上该球形取样区域的半径。依据申请专利范围第7项所述之扩散频谱造影方法，其中，在步骤(A-2)和(A-3)之间更包含一步骤：渐进地增加步骤(A-2)所得到之取样间距之值，直到位于该球形取样区域中最外面的取样资料与该球形取样区域的中心点之间的距离和该球形取样区域的半径相同时，则以此时的取样间距作为更新后的取样间距。依据申请专利范围第9项所述之扩散频谱造影方法，其中，在步骤(A-3)中，更根据该更新后的取样间距及该规则-非矩形取样晶格，计算每一取样资料在Q空间中的座标。依据申请专利范围第1项所述之扩散频谱造影方法，其中，在步骤(A-2)是根据下式来重复叠代：@sIMGTIF!d10007.TIF@eIMG!其中，i>d(n)/i>、i>d(n+1)/i>分别是第n、n+1次叠代时的取样间距，而i>N/i>insidei>(n)/i>是第n次叠代时的实际取样数目，且规则-非矩形取样晶格的基本单位取样间距和取样数目的三次方根约略成反比。一种Q空间取样方法，适用于扩散频谱造影方法中，该取样方法包含以下步骤：(a)接收使用者在Q空间中设定的一所需取样数目及一取样区域之范围；(b)在规则-非矩形取样晶格下，以叠代方式求得当一实际取样数目收敛至该所需取样数目时的取样间距；及(c)基于该取样间距及该规则-非矩形取样晶格，得到Q空间中该等取样资料之位置。依据申请专利范围第12项所述之Q空间取样方法，其中，该取样区域是一球形取样区域，而于步骤(a)中，更接收使用者设定的该球形取样区域的半径。依据申请专利范围第13项所述之Q空间取样方法，其中，步骤(c)更基于步骤(b)的该取样间距及该规则-非矩形取样晶格，计算每一取样资料在Q空间中的座标，且将每一座标都乘上一比例，以得到更精确的座标，而该比例是在步骤(b)的取样间距下，位于该球形取样区域中最外面的取样资料与该球形取样区域的中心点之间的距离除上该球形取样区域的半径。依据申请专利范围第13项所述之Q空间取样方法，其中，在步骤(b)和(c)之间更包含一步骤：渐进地增加步骤(b)所得到之取样间距之值，直到位于该球形取样区域中最外面的取样资料与该球形取样区域的中心点之间的距离和该球形取样区域的半径相同时，则以此时的取样间距作为更新后的取样间距。依据申请专利范围第15项所述之Q空间取样方法，其中，在步骤(c)中，更根据该更新后的取样间距及该规则-非矩形取样晶格，计算每一取样资料在Q空间中的座标。依据申请专利范围第12项所述之Q空间取样方法，其中，在步骤(b)是根据下式来重复叠代：@sIMGTIF!d10008.TIF@eIMG!其中，i>d(n)/i>、i>d(n+1)/i>分别是第n、n+1次叠代时的取样间距，而i>N/i>insidei>(n)/i>是第n次叠代时的实际取样数目，且规则-非矩形取样晶格的基本单位取样间距和取样数目的三次方根约略成反比。依据申请专利范围第12项所述之Q空间取样方法，其中，该规则-非矩形取样晶格包含体心堆积取样晶格。依据申请专利范围第12项所述之Q空间取样方法，其中，该规则-非矩形取样晶格包含面心堆积取样晶格。 |
