| 主权项 |
一种用于测试受测装置之具有多个测试通道之测试装置，每一测试通道具有适用于执行一特定测试功能之测试模组，且该测试装置包含：一通用区段，组配来提供对于该测试模组之该测试功能而言为非特定的测试资源，该通用区段包含一适用于连接到该测试设备之一中央控制装置的控制介面；一特定区段，被耦接到该通用区段，且组配来提供对于该测试模组之该测试功能而言为特定的测试资源，该特定区段包含一适用于连接到该受测装置的受测装置介面。如申请专利范围第1项所述之测试装置，其中该通用区段包含一第一记忆体单元，该第一记忆体单元适用于储存用于测试该受测装置的至少一测试图案。如申请专利范围第1项所述之测试装置，其中该通用区段包含一第二记忆体单元，该第二记忆体单元适用于储存一组与回应信号作比较的期望值，该等回应信号由该受测装置依据激励信号应用于该受测装置来产生。如申请专利范围第1项所述之测试装置，其中该通用区段包含一第三记忆体单元，该第三记忆体单元适用于储存一组产生自一组期望值与回应信号之一比较的结果值，该等回应信号由该受测装置依据激励信号应用于该受测装置来产生。如申请专利范围第4项所述之测试装置，其中该第一记忆体单元、该第二记忆体单元及该第三记忆体单元是逻辑上分离而实体上以一单一的共享记忆体装置来实现的记忆体部分。如申请专利范围第1项所述之测试装置，其中该通用区段包含一适用于控制该特定区段的处理器单元。如申请专利范围第1项所述之测试装置，适合于作为一被可移除地插入一测试装置之一接收单元之一个槽中的匣。如申请专利范围第1项所述之测试装置，其中该通用区段及该特定区段是由以下所组成之群组中的一者：该群组包含收纳于两分离的外壳中的两个实体上分离的元件、收纳在一共同的外壳中的一个实体上共同的元件，及二个分离的软体元件。如申请专利范围第1项所述之测试装置，其中该特定区段包含一适用于转换在该特定区段与该通用区段之间进行传输之信号的转换单元。如申请专利范围第9项所述之测试装置，其中该转换单元适用于在通用信号与特定信号之间进行转换。如申请专利范围第1项所述之测试装置，其中该转换单元包含一可程式化逻辑单元。如申请专利范围第1项所述之测试装置，其中该转换单元包含由一现场可程式化闸阵列、一可程式化逻辑装置及一特定应用积体电路所组成之群组中的至少一个。如申请专利范围第1项所述之测试装置，适用于测试以下群组之受测装置，该群组包含一记忆体装置、一动态随机存取记忆体装置、一逻辑电路、一电路、一积体电路、一处理器、一晶片系统、一智慧卡、一转发器及一混合电路。如申请专利范围第1项所述之测试装置，适合于作为由一数位波形产生模组、一类比波形产生模组、一电源供应模组、一射频测试信号产生模组及一直流测试信号产生模组所组成之群组中的一个。如申请专利范围第1项所述之测试装置，其包含：一适用于接收复数个测试模组之接收单元。如申请专利范围第15项所述之测试装置，其中该通用区段对于该等复数个测试模组中之每一个而言都是相同的。如申请专利范围第15项所述之测试装置，其中该通用区段对于该等复数个测试模组中之每一个而言都被相同地程式化或是相同地可程式化。如申请专利范围第15项所述之测试装置，其中该特定区段对于该等复数个测试模组之至少一部分而言是不同的。如申请专利范围第15项所述之测试装置，其中该特定区段对于该等复数个测试模组中之每一个而言被不同地程式化或是可不同地程式化的。如申请专利范围第1项所述之测试装置，该测试装置包含：一中央控制装置，其用于中央控制一将被执行来测试该受测装置的测试；其中该测试装置之该接收单元中被接收的该等测试模组之该控制介面被连接到该中央控制装置。 |
