发明名称 薄膜电阻器的制造方法
摘要 本发明提供一种薄膜电阻器的制造方法,包括:形成一掺杂区于一半导体基板中;形成一介电层于该基板上;形成一薄膜电阻器于该介电层上;于该薄膜电阻器进行回火之前,形成一接触孔于该介电层中,其中该接触孔露出一部分的该掺杂区;以及于形成该接触孔之后,对该薄膜电阻器实施一快速热回火。本发明可减少工艺时间,且经调整后的薄膜电阻器(TFR)特性不会因后续第二次的回火步骤而受影响。
申请公布号 CN102129900A 申请公布日期 2011.07.20
申请号 CN201010170233.8 申请日期 2010.04.27
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 叶德强;匡训沖;刘铭棋;喻中一;赵治平;亚历山大·卡尼斯基
分类号 H01C17/075(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I 主分类号 H01C17/075(2006.01)I
代理机构 北京市德恒律师事务所 11306 代理人 陆鑫;高雪琴
主权项 一种薄膜电阻器的制造方法,包括:a形成一掺杂区于一半导体基板中;b形成一介电层于该基板上;c形成一薄膜电阻器于该介电层上;d形成一接触孔于该介电层中,其中该接触孔露出该掺杂区;e形成一导电垫层于该接触孔的侧壁;以及f同时对该薄膜电阻器与该导电垫层实施一快速热回火。
地址 中国台湾新竹市