发明名称 |
薄膜电阻器的制造方法 |
摘要 |
本发明提供一种薄膜电阻器的制造方法,包括:形成一掺杂区于一半导体基板中;形成一介电层于该基板上;形成一薄膜电阻器于该介电层上;于该薄膜电阻器进行回火之前,形成一接触孔于该介电层中,其中该接触孔露出一部分的该掺杂区;以及于形成该接触孔之后,对该薄膜电阻器实施一快速热回火。本发明可减少工艺时间,且经调整后的薄膜电阻器(TFR)特性不会因后续第二次的回火步骤而受影响。 |
申请公布号 |
CN102129900A |
申请公布日期 |
2011.07.20 |
申请号 |
CN201010170233.8 |
申请日期 |
2010.04.27 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
叶德强;匡训沖;刘铭棋;喻中一;赵治平;亚历山大·卡尼斯基 |
分类号 |
H01C17/075(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I |
主分类号 |
H01C17/075(2006.01)I |
代理机构 |
北京市德恒律师事务所 11306 |
代理人 |
陆鑫;高雪琴 |
主权项 |
一种薄膜电阻器的制造方法,包括:a形成一掺杂区于一半导体基板中;b形成一介电层于该基板上;c形成一薄膜电阻器于该介电层上;d形成一接触孔于该介电层中,其中该接触孔露出该掺杂区;e形成一导电垫层于该接触孔的侧壁;以及f同时对该薄膜电阻器与该导电垫层实施一快速热回火。 |
地址 |
中国台湾新竹市 |