发明名称 二次电池劣化判定方法、二次电池劣化判定装置、及电源系统
摘要 二次电池劣化判定方法、二次电池劣化判定装置、及电源系统,以两次以上的规定次数重复下述操作,即,根据劣化状态量的设定值由充电状态量计算单元来求蓄电池的充电状态量,接着根据所述充电状态量由劣化状态量计算单元来求所述蓄电池的劣化状态量,将通过所述规定次数的重复而最后求得的所述劣化状态量作为劣化状态量输出值进行输出,将最后求得的所述充电状态量作为充电状态量输出值进行输出,并将所述劣化状态量输出值存储到存储器中。
申请公布号 CN102129039A 申请公布日期 2011.07.20
申请号 CN201010575509.0 申请日期 2006.09.13
申请人 古河电气工业株式会社 发明人 岩根典靖;木村贵史;藤村幸司;渡边勇一;佐藤敏幸;岩花史和;饭岛崇
分类号 G01R31/36(2006.01)I 主分类号 G01R31/36(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 李贵亮
主权项 一种二次电池劣化判定方法,其根据向负载供电的二次电池的内部阻抗或内部电阻来判定所述二次电池的劣化状态,所述二次电池劣化判定方法的特征在于,预先设定规定的温度特性函数,该温度特性函数包括至少一个以上的指数项和一个调整参数,并表示所述内部阻抗或所述内部电阻的温度依存性,以所述二次电池按规定电流进行充电或放电时的电流测定值以及电压测定值为基础,计算所述内部阻抗或所述内部电阻,将所述二次电池按所述规定电流进行充电或放电时的所述二次电池的温度测定值和所述计算出的内部阻抗或内部电阻代入所述温度特性函数中来确定所述调整参数的值,将所述确定的调整参数的值和规定的基准温度代入所述温度特性函数来计算基准内部阻抗或基准内部电阻,根据所述计算出的基准内部阻抗或基准内部电阻来判定所述二次电池的劣化状态。
地址 日本东京都