发明名称 一种基于光学的模型试验位移测量方法
摘要 本发明公开了一种基于光学的模型试验位移测量方法及装置,属于测量技术领域。主要技术方案是在被测试模型上设置标志点,通过摄像设备进行图像采集,并提取不同时刻的图像。将提取到的图像导入测试分析系统,可以得到各测试点的位移或变形。本发明可以实时记录模型标记点的变形过程,并通过数字图像处理得到满足较高精度要求的位移。该测试系统能用来进行较高精度的模型试验中位移测量。
申请公布号 CN101033962B 申请公布日期 2011.07.20
申请号 CN200710051571.8 申请日期 2007.02.12
申请人 三峡大学 发明人 罗先启;李宏阶;张振华;吴剑;王志俭;曹玲;张峰;李运江;涂鹏飞
分类号 G01C11/06(2006.01)I 主分类号 G01C11/06(2006.01)I
代理机构 宜昌市三峡专利事务所 42103 代理人 成钢
主权项 一种基于光学的模型试验位移测量方法,其特征在于:在模型测试平面布设标志点,标志点嵌固在试验模型中,使标志点与模型变形测点始终保持一致;将摄像设备布设在与测试平面垂直位置,保证摄像的有效范围,使摄像所得到的数字图像像素对应物理尺寸控制在精度要求范围内;摄像设备将试验过程的图像转换为图像信号,图像信号经过图像采集卡采集压缩形成流媒体文件;将得到的流媒体文件导入计算机后先提取边缘点,再剔除异常点,拟合求得标志点的中心,对不同时刻的图像处理后,得到位移量。
地址 443002 湖北省宜昌市大学路8号