发明名称 |
半导体元件的制造方法 |
摘要 |
本发明提供一种半导体元件的制造方法,包括以下步骤:提供多个第一半导体鳍和多个第二半导体鳍于一基底的表面上方;以一掩模材料覆盖部分但非所有的第一半导体鳍;及使用具有一角度的注入工艺进行注入,借以使所有所述第一半导体鳍被该掩模材料阻挡,没有进行注入,且使所有的第二半导体鳍被注入。本发明使用具有一角度注入工艺掺杂半导体元件的半导体鳍,且提供一图案化光致抗蚀剂,覆盖部分但非所有的第一型态的半导体鳍,本发明使用具有角度的注入工艺,因此,所有的第二型态的半导体鳍被注入,而第一型态的半导体鳍皆没有被注入。本发明因为减少部分使用的光致抗蚀剂,可达成高倾斜或注入角度。 |
申请公布号 |
CN102130008A |
申请公布日期 |
2011.07.20 |
申请号 |
CN201010209279.6 |
申请日期 |
2010.06.21 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
余绍铭;张长昀 |
分类号 |
H01L21/336(2006.01)I;H01L21/266(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/336(2006.01)I |
代理机构 |
北京市德恒律师事务所 11306 |
代理人 |
陆鑫;高雪琴 |
主权项 |
一种半导体元件的制造方法,包括以下步骤:提供多个第一半导体鳍和多个第二半导体鳍于一基底的表面上方;以一掩模材料覆盖部分但非所有的第一半导体鳍;及使用具有一角度的注入工艺进行注入,借以使所有所述第一半导体鳍被该掩模材料阻挡,没有进行注入,且使所有的第二半导体鳍被注入。 |
地址 |
中国台湾新竹市 |