发明名称 半导体精细图形及鳍形场效应管的FIN体的制作方法
摘要 本发明公开了一种精细图形的制作方法,包括:在待加工材料的表面上形成牺牲层,对牺牲层进行粗加工以形成粗加工图形,并在牺牲层的表面上形成覆盖层;从形成的粗加工图形的侧面对牺牲层进行选择性腐蚀,使之平面尺寸减小到所需要的尺度,得到牺牲层精细图形;去除覆盖层;以牺牲层精细图形为掩膜,刻蚀待加工材料以形成待加工材料的精细图形。本发明采用由粗到细的思路,先得到牺牲层粗加工图形,再通过侧面腐蚀以得到牺牲层精细图形,将其作为掩膜刻蚀待加工材料以形成待加工材料的精细图形,整个方案中所形成的精细图形不受光刻和刻蚀技术水平的限制,制作方法实现简单,与传统制作工艺兼容,可控性好,成本低,具有很强的实用价值。
申请公布号 CN102129982A 申请公布日期 2011.07.20
申请号 CN201010612857.0 申请日期 2010.12.29
申请人 北京大学深圳研究生院 发明人 张盛东;黄如;韩汝琦
分类号 H01L21/3105(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I 主分类号 H01L21/3105(2006.01)I
代理机构 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 代理人 郭燕
主权项 一种精细图形的制作方法,其特征在于,包括:在待加工材料的表面上形成牺牲层,对所述牺牲层进行粗加工以形成粗加工图形,并在牺牲层的表面上形成覆盖层;从形成的粗加工图形的侧面对所述牺牲层进行选择性腐蚀,使之平面尺寸减小到所需要的尺度,得到牺牲层精细图形;去除所述覆盖层;以所述牺牲层精细图形为掩膜,刻蚀所述待加工材料以形成待加工材料的精细图形。
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