发明名称 |
信号与背景波长同时检测的元素光谱分析方法 |
摘要 |
本发明公开了一种信号与背景波长同时检测的元素光谱分析方法,该方法包括如下步骤:A、激光器输出激光并照射到待测品上,待测品内元素分解的同时向外发射光线;B、从待测品传出的发射光线输入单色仪内,并经单色仪内的分束片进行分束;C、经分束片分束的光线分别传输至两个出射狭缝;D、两个光电转换元件将两个出射狭缝处的光强信号转换为电信号,并将两个电信号传输至信号处理装置,由信号处理装置同时对两个信号进行处理。本发明检测分析的效率高,误差小。 |
申请公布号 |
CN101592610B |
申请公布日期 |
2011.07.20 |
申请号 |
CN200910040815.1 |
申请日期 |
2009.07.03 |
申请人 |
广州市计量检测技术研究院;华南理工大学;中山大学 |
发明人 |
周伦彬;蔡永洪;李润华;赵芳;周建英;王自鑫 |
分类号 |
G01N21/63(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/63(2006.01)I |
代理机构 |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人 |
谢伟;秦雪梅 |
主权项 |
信号与背景波长同时检测的元素光谱分析方法,其特征在于,该方法至少包括如下步骤:A、激光器输出激光并照射到待测品上,待测品内元素分解的同时向外发射光线;B、从待测品传出的发射光线输入单色仪内,并经单色仪内的分束片进行分束;C、经分束片分束的光线分别传输至两个出射狭缝,即第一出射狭缝与第二出射狭缝;D、两个光电转换元件将两个出射狭缝处的光强信号转换为电信号,并将两个电信号传输至信号处理装置,由信号处理装置同时对两个信号进行处理;与两个出射狭缝轴线均成45度角的线为基准线,分束片与该基准线成倾斜夹角,在单色仪主体与分束片之间设有可对分束片进行调节的角度调节装置,通过角度调节装置对分束片与基准线之间的倾斜夹角进行微调,并使第二出射狭缝的输出光的波长做微小移动至背景波长位置,此时,第二出射狭缝就输出背景信号。 |
地址 |
510520 广东省广州市萝岗区科学城尖塔山路19号 |