可校准多维磁点传感器

摘要

一种可校准磁场传感器(100)，用于感测参考点(101)中的磁场的第一和第二空间分量(By，Bz；Bx，By)，其中，所述磁场包括第一和第二测量场分量(BMy，BMz；BMx，BMy)和/或第一和第二校准场分量(BKy，BKz；BKx，BKy)。可校准磁场传感器(100)包括：第一传感器元件布置(104；106)，包括至少第一和第二传感器元件(104a，104b；106a，106b)以感测第一参考点(101)中相对于第一空间轴(y；x)的第一磁场分量(By；Bx)，所述第一磁场分量(By；Bx)包括第一测量场分量(BMy；BMx)和/或第一校准场分量(BKy；BKx)。此外，磁场传感器(100)包括：第二传感器元件布置(102；104)，用于感测第一参考点(101)中相对于第二空间轴(z；y)的第二磁场分量(Bz；By)，所述第二磁场分量(Bz；By)包括第二测量场分量(BMz；BMy)和/或第二校准场分量(BKz；BKy)。磁场传感器(100)还包括：激励线(108)，相对于第一传感器元件布置(104；106)而布置，使得在将默认电流(Ik1)施加到激励线(108)时，在第一传感器元件布置(104；106)中相对于第一空间轴(y；x)产生第一传感器元件(104a；106a)和第二传感器元件(104b；106b)中的一对不同的非对称默认校准场分量(BKya；BKxa；BKyb；BKxb)，其中两个空间轴(y，z；x，z；x，y)沿着线性无关位置矢量延伸。

主权项

一种可校准磁场传感器(100)，用于感测参考点(101)中的磁场的第一和第二空间分量(By，Bz；Bx，By)，其中，所述磁场包括第一和第二测量场分量(BMy，BMz；BMx，BMy)和/或第一和第二校准场分量(BKy，BKz；BKx，BKy)，所述可校准磁场传感器(100)包括：第一传感器元件布置(104；106)，包括至少第一和第二传感器元件(104a，104b；106a，106b)以感测第一参考点(101)中相对于第一空间轴(y；x)的第一磁场分量(By；Bx)，所述第一磁场分量(Bx；Bx)包括第一测量场分量(BMy；BMx)和/或第一校准场分量(BKy；BKx)；第二传感器元件布置(102；104)，用于感测第一参考点(101)中相对于第二空间轴(z；y)的第二磁场分量(Bz；By)，所述第二磁场分量(Bz；By)包括第二测量场分量(BMz；BMy)和/或第二校准场分量(BKz；BKy)；激励线(108)，相对于第一传感器元件布置(104；106)而布置，使得在将默认电流(Ik1)施加到激励线(108)时，在第一传感器元件布置(104；106)中相对于第一空间轴(y；x)，产生第一传感器元件(104a；106a)和第二传感器元件(104b；106b)中的一对不同的非对称默认校准场分量(BKya，BKxa；BKyb，BKxb)，其中两个空间轴(y，z；x，z；x，y)沿着线性无关位置矢量延伸。