发明名称 降低沟槽隔离漏电的方法
摘要 本发明公开了一种降低沟槽隔离漏电的方法,1.通过光刻的方法在硅片上定义沟槽的位置;2.在硅衬底上刻蚀出沟槽;3.对刻蚀的区域用化学药液进行清洗;4.在高温炉管生长衬垫氧化层;5.在惰性气体中进行高温快速热退火,并快速冷却;6.在惰性气体中进行低温退火;7.采用高密度等离子化学气相淀积的方法填充氧化物;8.退火致密化;9.进行化学机械抛光去除不需要的氧化物。本发明的降低沟槽隔离漏电的方法能够降低缺陷密度,提高氧化物质量,并且兼容现有工艺和设备。
申请公布号 CN101728304B 申请公布日期 2011.07.20
申请号 CN200810043846.8 申请日期 2008.10.16
申请人 上海华虹NEC电子有限公司 发明人 陈俭
分类号 H01L21/762(2006.01)I 主分类号 H01L21/762(2006.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人 丁纪铁
主权项 一种降低沟槽隔离漏电的方法,其特征在于,包括以下步骤:第一步,通过光刻的方法在硅片上定义沟槽的位置;第二步,在硅衬底上刻蚀出沟槽;第三步,对刻蚀的区域用化学药液进行清洗;第四步,在高温炉管生长衬垫氧化层;第五步,在惰性气体中进行高温快速热退火,并快速冷却;所述高温快速热退火温度大于1050摄氏度小于1250摄氏度,升温速度大于10摄氏度每秒,小于100摄氏度每秒;所述快速冷却时降温速度大于50摄氏度每秒,小于200摄氏度每秒;所述惰性气体为氮气、氩气、氨气或者它们的混合气体;第六步,在惰性气体中进行低温退火;所述低温退火采用炉管低温退火,退火的温度小于800摄氏度大于500摄氏度,所述惰性气体为氮气、氩气、氨气或者它们的混合气体;第七步,采用高密度等离子化学气相淀积的方法填充氧化物;第八步,退火致密化;第九步,进行化学机械抛光去除不需要的氧化物。
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