发明名称 |
用于检验微珠的单元和分析微珠的方法 |
摘要 |
本文公开了用于检验微珠的单元和分析微珠的方法,该单元用于检验均形成为具有彼此相对并且基本上平行的上表面和下表面以及与上表面和下表面相连续的侧面的圆柱形状的微珠,上表面和下表面中的至少一个设置有识别图案,该单元包括:支撑基板;以及盖体,设置为与支撑基板相对,其中,支撑基板和盖体之间的空间形成其中用于设置微珠的容纳空间,并且支撑基板和盖体之间的距离大于微珠的厚度并小于微珠的厚度的两倍。 |
申请公布号 |
CN102128922A |
申请公布日期 |
2011.07.20 |
申请号 |
CN201010581750.4 |
申请日期 |
2010.12.09 |
申请人 |
索尼公司 |
发明人 |
坂本直久;岸井典之;伊东和峰 |
分类号 |
G01N33/543(2006.01)I;G01N33/53(2006.01)I;G01N15/10(2006.01)I;C12Q1/68(2006.01)I |
主分类号 |
G01N33/543(2006.01)I |
代理机构 |
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 |
代理人 |
余刚;吴孟秋 |
主权项 |
一种用于检验微珠的单元,用于检验均形成为具有彼此相对并且基本上平行的上表面和下表面以及与所述上表面和所述下表面相连续的侧面的圆柱形状的微珠,所述上表面和所述下表面中的至少一个设有识别图案,所述单元包括:支撑基板;以及盖体,与所述支撑基板相对地设置,其中所述支撑基板和所述盖体之间的空间形成所述微珠设置于其中的容纳空间,以及所述支撑基板和所述盖体之间的距离大于所述微珠的厚度并小于所述微珠的厚度的两倍。 |
地址 |
日本东京 |