发明名称 Verfahren zur Ausbildung einer zweistufigen Dotierung in einem Halbleitersubstrat
摘要 <p>Verfahren zur Ausbildung einer zweistufigen Dotierung in einem Halbleitersubstrat (80), bei welchem in einen mit der zweistufigen Dotierung (90, 92) zu versehenden Dotierungsbereich (89) mittels einer starken Diffusion (10) Dotierstoff in das Halbleitersubstrat (80) eindiffundiert und in dieser Weise eine hohe Oberflächenkonzentration an Dotierstoff ausgebildet wird, nach der starken Diffusion (10) in stärker zu dotierenden Bereichen (91) der zweistufigen Dotierung (90, 92) das Halbleitersubstrat (80) lokal erhitzt wird (12) und auf dem Dotierungsbereich (89) eine Oxidschicht (88) ausgebildet wird (16).</p>
申请公布号 DE102010004498(A1) 申请公布日期 2011.07.14
申请号 DE20101004498 申请日期 2010.01.12
申请人 CENTROTHERM PHOTOVOLTAICS AG 发明人 TEPPE, ANDREAS;GEIGER, MATTHIAS;SCHLOSSER, REINHOLD, DR.;ISENBERG, JOERG, DR.;KUEHN, TINO;MUENZER, ADOLF;KELLER, STEFFEN, DR.
分类号 H01L31/18;H01L21/22;H01L21/268 主分类号 H01L31/18
代理机构 代理人
主权项
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