| 发明名称 | 自动分析装置 | ||
| 摘要 | 本发明为一种自动分析装置。本发明的自动分析装置具备：分析样品的分析单元；将样品架传送至所述分析单元的支架传送装置，该样品架载放保持所述样品的样品容器；将样品架投入到该支架传送装置的支架投入口；将精度管理试样以设置于所述样品架的状态来保持在装置内的机构，其特征在于，具备输送控制设备，使得在委托项目的精度管理试样的测定结果异常的时候，对于精度管理试样生成与检测出异常的委托项目相应的规定的测定委托，分析保持在装置内的不同的精度管理试样。如操作者事前准备精度管理试样，则能根据外部因素进行精度管理试样分析，可减少操作者的负担，并在必须进行精度管理的适当时期一定能够实现精度管理，可自动维持测定精度。 | ||
| 申请公布号 | CN102121941A | 申请公布日期 | 2011.07.13 |
| 申请号 | CN201110039292.6 | 申请日期 | 2008.02.27 |
| 申请人 | 株式会社日立高新技术 | 发明人 | 圷正志 |
| 分类号 | G01N35/02(2006.01)I;G01N35/04(2006.01)I;G01N35/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N35/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人 | 钟晶;李昆岐 |
| 主权项 | 一种自动分析装置，其具备：分析样品的分析单元；将样品架传送至所述分析单元的支架传送装置，该样品架载放保持所述样品的样品容器；将样品架投入到该支架传送装置的支架投入口；将精度管理试样以设置于所述样品架的状态来保持在装置内的机构，其特征在于，具备输送控制设备，使得在委托项目的精度管理试样的测定结果异常的时候，对于精度管理试样生成与检测出异常的委托项目相应的规定的测定委托，分析保持在装置内的不同的精度管理试样。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||