发明名称 一种用于声表面波器件的氮化铝压电薄膜及其制备方法
摘要 一种用于声表面波器件的氮化铝压电薄膜,由金刚石衬底和该衬底表面形成的一层氮化铝薄膜构成,所述氮化铝薄膜是厚度为0.6-0.7µm的纳米薄膜;其制备方法是:在MOCVD沉积系统的进样室,首先对金刚石衬底表面进行等离子体清洗,然后采用磁控溅射工艺在金刚石衬底表面沉积一层氮化铝薄膜。本发明的优点是:提供了一种用于高性能声表面波(SAW)器件的AlN压电薄膜,用其制备的SAW器件频率高(≥2.5GHz),且可以承受大功率(≥37dBm),可以满足高频率和/或大功率移动通信的要求;本发明提供的压电薄膜的制备方法,其工艺条件方便易行,有利于大规模推广应用,具有重大的生产实践意义。
申请公布号 CN102122936A 申请公布日期 2011.07.13
申请号 CN201110087851.0 申请日期 2011.04.08
申请人 天津理工大学 发明人 薛玉明;杨保和;苏林;朱亚东;刘君;宋殿友;潘宏刚;辛治军
分类号 H03H9/25(2006.01)I;H03H3/02(2006.01)I 主分类号 H03H9/25(2006.01)I
代理机构 天津佳盟知识产权代理有限公司 12002 代理人 侯力
主权项 一种用于声表面波器件的氮化铝压电薄膜,其特征在于:由金刚石衬底和该衬底表面形成的一层氮化铝薄膜构成,所述氮化铝薄膜是厚度为0.6‑0.7µm的纳米薄膜。
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