发明名称 |
QFN芯片重力式测试下料装置 |
摘要 |
本实用新型公开了一种QFN芯片重力式测试下料装置,至少包括倾斜设置的下料工作台;所述下料工作台上并列设置有多个用于放置料管的料管槽;所述料管槽内料管的下方设置有料管上推装置;所述下料工作台上还设置有将所述料管推送到料管弹夹中的横向推送机构。本实用新型由于上述结构设计,通过设置料管上推装置及横向推送机构,提升了整机的自动化率,具有传送平稳,结构紧凑、高效且造价低廉的有益效果。 |
申请公布号 |
CN201894997U |
申请公布日期 |
2011.07.13 |
申请号 |
CN201020614702.6 |
申请日期 |
2010.11.19 |
申请人 |
上海微曦自动控制技术有限公司 |
发明人 |
蔡微微;贺怀珍 |
分类号 |
B07C5/36(2006.01)I |
主分类号 |
B07C5/36(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种QFN芯片重力式测试下料装置,至少包括倾斜设置的下料工作台;所述下料工作台上并列设置有多个用于放置料管的料管槽;其特征在于:所述料管槽内料管的下方设置有料管上推装置;所述下料工作台上还设置有将所述料管推送到料管弹夹中的横向推送机构。 |
地址 |
201203 上海市张江高科技园区郭守敬路351号2号楼657-20室 |